江蘇電路板功能測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-09-22

在線測(cè)試儀優(yōu)勢(shì):1、縮短測(cè)試時(shí)間:一般組裝電路板如約300個(gè)零件ICT的大約是3-4秒鐘。 對(duì)復(fù)雜,而且還包含了上電后的功能測(cè)試,象TTL、OPAMP、Frequency、TREE、BSCAN、MEMORY等,所以將ATE單獨(dú)為另一個(gè)類別了!2、測(cè)試結(jié)果的一致性:ICT的質(zhì)量設(shè)定功能,能夠透過(guò)電腦控制,嚴(yán)格控制質(zhì)量。3、容易檢修出不良的產(chǎn)品:ICT有多種測(cè)試技術(shù),高度的可靠性,檢測(cè)不良品種、且準(zhǔn)確。4、測(cè)試員及技術(shù)員水平需求降低:只要普通操作員,即可操作與維修。5、減省庫(kù)存、備頻、維修庫(kù)存壓力、較大程度上提高生產(chǎn)成品率。6、較大程度上提升品質(zhì)。減少產(chǎn)品的不良率,提高企 業(yè)形象。功能測(cè)試系統(tǒng)有利于產(chǎn)品上市前的全方面驗(yàn)收。江蘇電路板功能測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格

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治具,常規(guī)的治具設(shè)計(jì),大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測(cè)試過(guò)程中壓板下壓時(shí),如果壓板、載板、針板固定不佳,容易產(chǎn)生晃動(dòng),從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形,進(jìn)行而導(dǎo)致測(cè)試針和測(cè)試點(diǎn)接觸不良或者位置偏移,使得測(cè)試針彎曲變形引起誤測(cè)甚至導(dǎo)致UUT裂損。上述情況的發(fā)生,尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時(shí)更容易產(chǎn)生。治具定位原理,根據(jù)電路板的不同, 可采用以下幾種定位方式根據(jù)工件的不同情況。1、以外緣輪廓定位,對(duì)于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板,可采用外輪廓定位方式。長(zhǎng)邊用定位板,限制2個(gè)自由度;短邊用定位針,限制1個(gè)自由度。在另一短邊,還可以增加1只定位針,形成所謂的約束性過(guò)定位。這種方式中,兩根定位柱所限位的尺寸應(yīng)比UUT尺寸略大,在0.3mm~0.5mm即可。雖然由于此間隙的存在,定位精度會(huì)略有降低,但操作方便、制造簡(jiǎn)單。2、以“邊/孔”定位,對(duì)于面積尺寸較大的電路板,可以采用“邊/孔”定位,這也屬于約束性過(guò)定位的一種。定位板限制2個(gè)自由度,定位柱限制2個(gè)自由度。這種形式中,通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些。上海電路板功能測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格功能測(cè)試系統(tǒng)可提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。

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軟件模塊,功能測(cè)試軟件的主要功模塊包括:1、程序運(yùn)行模塊;2、資源管理模塊;3、腳本管理模塊;4、數(shù)據(jù)管理模塊;5、權(quán)限管理模塊...程序運(yùn)行平臺(tái),執(zhí)行環(huán)境具有功能強(qiáng)大的測(cè)試程序控制功能,既能為高水平技術(shù)人員提供多種測(cè)試程序控制功能及故障排除功能,也為較基本的操作人員提供極其簡(jiǎn)單的GO/NOGO測(cè)試方式。資源管理,資源管理主要包括驅(qū)動(dòng)管理、儀器配置、接口配置。腳本管理平臺(tái),腳本管理一般為使用廣為熟悉的類C的語(yǔ)法,具有完整的腳本編寫(xiě)、調(diào)試、運(yùn)行環(huán)境。腳本可以系統(tǒng)自動(dòng)生成,并可以由用戶進(jìn)行修改和編輯。數(shù)據(jù)管理平臺(tái),數(shù)據(jù)管理平臺(tái)可以根據(jù)日期分開(kāi)保存Fail和Pass產(chǎn)品序列號(hào)、測(cè)試人員、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試每項(xiàng)實(shí)際值及結(jié)果;可以自動(dòng)統(tǒng)計(jì)測(cè)試結(jié)果資料,對(duì)不良品和返修品可以隨時(shí)根據(jù)日期或批次,查詢對(duì)應(yīng)S/N號(hào)的測(cè)試結(jié)果狀態(tài)等。

在不同的技術(shù)領(lǐng)域里,測(cè)試內(nèi)容、要求、條件和自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)各不相同,但都是利用計(jì)算機(jī)代替人的測(cè)試活動(dòng)。一般自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包括控制器、激勵(lì)源、測(cè)量?jī)x表(或傳感器)、開(kāi)關(guān)系統(tǒng)、人機(jī)接口和被測(cè)單元-機(jī)器接口等部分。① 控制器,一般是小型計(jì)算機(jī)、微型計(jì)算機(jī)或計(jì)算器(即專門使用母線控制器)。控制器應(yīng)有測(cè)試程序軟件,用來(lái)管理測(cè)試過(guò)程,控制數(shù)據(jù)流,接受測(cè)量結(jié)果,處理數(shù)據(jù),檢驗(yàn)讀數(shù)誤差,完成計(jì)算,并將結(jié)果送到顯示器或打印機(jī)。② 激勵(lì)源,即信號(hào)源,它向被測(cè)單元提供輸入信號(hào)。它可以是電源、函數(shù)發(fā)生器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、頻率合成器等。功能測(cè)試系統(tǒng)可為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供有效手段。

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國(guó)外從20世紀(jì)初就開(kāi)始研電路板測(cè)試系統(tǒng),起初主要應(yīng)用于官方領(lǐng)域。據(jù)統(tǒng)計(jì)采用電路板測(cè)試后,可以使裝備的測(cè)試效率提高10倍以上,在其全壽命周期內(nèi)節(jié)省費(fèi)用20%以上。鑒于電路板測(cè)試在生產(chǎn)維護(hù)中的突出功能,世界各國(guó)都投入研制各自的電路板測(cè)試技術(shù),促進(jìn)了這一行業(yè)的飛速發(fā)展。正在興起的面向?qū)ο蠹夹g(shù),也得到廣闊應(yīng)用,這直接促生了一種新的語(yǔ)言ATLAS,已經(jīng)在美國(guó)的CASS、法國(guó)的的ATEC、以色列的RADA得到工程應(yīng)用。系統(tǒng)功能,在線測(cè)試(ICT):PCB開(kāi)路、短路、漏件、錯(cuò)件、變值、反向、虛焊、空焊(包括IC空焊)等。功能測(cè)試(FCT):電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、轉(zhuǎn)速、LED亮度、位置測(cè)定、圖形識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量以及控制、壓力測(cè)量控制、精密運(yùn)動(dòng)控制、FLASH、EEPROM在線燒錄等。系統(tǒng)應(yīng)用:空調(diào)主板、電視機(jī)板、洗衣機(jī)板、微波爐板、遙控器板、汽車電子電路板、其他消費(fèi)類電子產(chǎn)品、各種PCB板檢測(cè)。功能測(cè)試系統(tǒng)能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)和解決產(chǎn)品功能性問(wèn)題。無(wú)錫PCBA功能測(cè)試系統(tǒng)定制方案

功能測(cè)試系統(tǒng)可以確保產(chǎn)品符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)和要求。江蘇電路板功能測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格

Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高,功能越來(lái)越強(qiáng),封裝越來(lái)越小,SMT元件的增多,多層板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難,為增加測(cè)試點(diǎn),使制造費(fèi)用增高;同時(shí)為開(kāi)發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難,開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。為此,聯(lián)合測(cè)試組織(JTAG)頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問(wèn)端口(TAP)的四(五〕個(gè)管腳:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。江蘇電路板功能測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格