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但是按照阿貝原則設計的儀器，由于被測長度必須布置在基準元件沿運動方向的延長線上，基準元件占據(jù)了測量方向上的空間，使測量長度范圍的上限受到了限制。例如當圖3測長機能測量1米時，同樣外形大小的圖2測長機只能測量0.5米。這使得按阿貝原則設計儀器的外形很長，儀器的結構剛度減低，并且成本增加。因此,某些測長機采用違背阿貝原則的設計是不得已而為之。違反阿貝原則的測長機，在設計時，必須采取措施對所產生的阿貝誤差進行補償或提高導軌的運動精度，從而減小阿貝誤差的發(fā)生。這種措施被稱為艾伯斯坦原理.它可以表述為:在實際測量中,利用各種機構，使可能產生的誤差相互抵消和削弱，或者故意引進新的誤差，以減小某些誤差的影響。我們的測長機產品具有友好的用戶界面和操作方式，能夠滿足客戶對簡單易用的需求。寧波性能優(yōu)良測長機代理價格

如果浮動導軌松動，應將橫向的一根導軌拆下來，中間雙面導軌下便露出了±3o轉動軸上三只緊固螺釘，拆掉轉動軸后，即可拆掉橫向運動導軌基座。由于浮動導軌的結構與橫向運動導軌基本相同，檢修辦法同上。(4)在檢修過程中應注意下列事項①由于橫向運動在全程25mm范圍內與測量主軸的垂直度要求為，所以在橫向導軌檢修過程中不可將兩根單面導軌全部拆掉，否則，垂直度要求將被破壞，增加檢修難度。②在浮動導軌松動時，檢修過程中不能將導軌卡得太緊，否則將使浮動靈敏度降低，影響工作臺重復性誤差的調整。蘇州精度高測長機多少錢我們的測長機產品具有高度的可靠性和耐用性，能夠在長時間的使用中保持穩(wěn)定的性能。

UCK系列高精度光柵式萬能測長儀采用進口高精度光柵、精密研磨導軌、雙向恒測力系統(tǒng)和軟件控制系統(tǒng)技術，實現(xiàn)待測件各參數(shù)的高精度測量。高精密研磨導軌確保了測量的高穩(wěn)定性及直線度，采用進口高精度光柵測量系統(tǒng)確保了數(shù)據(jù)的準確性和可靠性，由電腦軟件將數(shù)據(jù)與測量平臺、測力系統(tǒng)、溫度傳感器溫度和光柵采集數(shù)據(jù)進行計算分析得出各被測件的數(shù)據(jù)，測量量程達到0-500/1000mm，主要用于實驗室檢測量塊、光面環(huán)規(guī)、光面塞規(guī)、螺紋環(huán)規(guī)、螺紋塞規(guī)、卡規(guī)、量棒、針規(guī)尺類、表類等器具。

1.讀數(shù)顯微鏡；2.玻璃刻線尺；3.反光棱鏡；4.工作臺測量軸和尾管的同軸度不超過。【萬能測長儀檢定方法】將直徑為φ8mm的用平面測帽安裝在測量軸和尾管的測量桿上，移動測量軸，使兩測帽相接觸，借助尾管測量桿的徑向調整螺釘，將兩測帽的測量面調至平行。然后萬能測長儀用千分尺測量兩測帽的偏移程度。尾管測量桿徑向調整機構的不穩(wěn)定性調整的不穩(wěn)定性不超過?！救f能測長儀檢定方法】在測量軸和尾管的測量桿上，安裝φ8mm的平面測帽。移動測量軸，使兩平面測帽相接觸，轉動尾管測量桿的一個徑向調整螺釘，在讀數(shù)裝置中找到小值，再轉動另一個徑向調整螺釘，同樣找到小值，反復轉動這兩個螺釘，當穩(wěn)定后，分別測得兩螺釘在正、反向轉動時的小值。萬能測長儀再轉動兩螺釘，當改變其位置后，重新按上述方法進行調整找到小值。這一調整工作至少進行三次，所有小值之差應不超過。萬能測長儀從測量桿上取下平面測帽，安裝球面測帽后，按上述方法再進行檢定。我們的測長機產品采用先進的技術和材料，確保其長久的使用壽命和高效的性能。

利用頭座的測力并使用平面測帽的平面（針對圓周外徑測量，如光面塞規(guī)，針規(guī)及棒材）接觸被測平面，五軸工作臺的水平方向浮動，使得尾座測帽球面與被測件另一平面接觸；從而測得兩測帽平面間的距離；利用頭座測力并使用平面測帽接觸三針使三針與螺紋塞規(guī)螺紋槽中徑截面點接觸，得到平面測帽間的距離，并加上三針針徑，使用三針法計算得到螺紋單一中徑；利用T型測球與螺紋環(huán)規(guī)內螺紋槽中徑截面點分別接觸，得到一組螺紋中截面中徑數(shù)據(jù)，并通過三針法計算得到螺紋單一中徑；數(shù)據(jù)修正：通過測力修正系統(tǒng)及溫度修正系統(tǒng)將X軸向光柵反饋的數(shù)據(jù)進行修正得到正確的X軸標準長度數(shù)值；軟件標準及數(shù)據(jù)計算：軟件系統(tǒng)內置多個標準，并通過對應標準的數(shù)據(jù)計算得到檢定所需數(shù)據(jù)（如螺紋的單一中徑，量塊的標準長度，光面規(guī)的真值等。精度高測長機批發(fā)價格哪家便宜？蘇州UCK1000測長機

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當緊固水平軸時，觀察示值的變化。萬能測長儀工作臺微分筒的示值誤差和回程誤差【要求】示值誤差不大于8um；回程誤差不大于3um。【萬能測長儀檢定方法】用檢定極限誤差不超過±1um的玻璃刻度尺和分度值為1um的讀數(shù)顯微鏡檢定。萬能測長儀檢定時，將玻璃刻度尺安裝在工作臺上，并使其軸線平行于微分筒移動方向。在刻度尺的下方安裝反光棱鏡。將讀數(shù)顯微鏡借助支架固定在基座上，當微分筒對準零位后,調整顯微鏡，使其對準刻度尺的零線，并記下顯微鏡的示值。然后萬能測長儀以正向行程依次地每間隔5mm檢定一點，當檢定至終點后，再以反向行程檢定。移開測量軸，將尺寸為50mm的3等量塊安裝在工作臺上。升降和移動工作臺，使量塊處于測量軸上。萬能測長儀移動測量軸，使其和尾管的測量桿上的球面測帽與量塊工作面相接觸，然后使工作臺按水平軸和垂直軸的正反向轉動來找出量塊的小值。萬能測長儀當分別以正向和反向轉動工作臺找到小值時，進行讀數(shù)。再改變工作臺狀態(tài)，重新按上述方法進行檢定和讀數(shù)。萬能測長儀此項檢定至少進行三次，所有讀數(shù)中任一兩讀數(shù)之差不超過0.2um。換上平面測帽，并將其測量面調至平行后，按上述方法再次檢定。寧波性能優(yōu)良測長機代理價格