電子設(shè)備產(chǎn)品可靠性測(cè)試CNAS檢測(cè)報(bào)告

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-09-16

可靠性測(cè)試就是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi),在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用,以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和儲(chǔ)存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。通過使用各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備模擬氣候環(huán)境中的高溫、低溫、高溫高濕以及溫度變化等情況,加速反應(yīng)產(chǎn)品在使用環(huán)境中的狀況,來驗(yàn)證其是否達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo),從而對(duì)產(chǎn)品整體進(jìn)行評(píng)估,以確定產(chǎn)品可靠性壽命。如何選擇可靠性測(cè)試?歡迎咨詢上海天梯檢測(cè)!電子設(shè)備產(chǎn)品可靠性測(cè)試CNAS檢測(cè)報(bào)告

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HALT 是一種通過讓被測(cè)物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限,以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng),高低溫,溫度循環(huán),電力開關(guān)循環(huán),電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段,能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。包含以下內(nèi)容: a、逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障; b、采取臨時(shí)措施,修正產(chǎn)品的失效或故障; c、繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障,并再次加以修正; d、重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟; e、找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。 HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段,以確保所有在HALT 中找到的改進(jìn)措施能夠得到實(shí)施。HASS 包含如下內(nèi)容: a、進(jìn)行預(yù)篩選、剔除可能發(fā)展為明顯缺點(diǎn)的隱性缺點(diǎn); b、進(jìn)行探測(cè)篩選、找出明顯缺點(diǎn); c、故障分析;改進(jìn)措施。上海電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目可靠性測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。

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溫濕環(huán)境試驗(yàn)系列   序號(hào) 項(xiàng)目 試驗(yàn)范圍   1 高溫試驗(yàn) (1)高溫箱(小) 常溫~300℃  ?。?)1m3 常溫~100℃  ?。?)16 m3 常溫+10℃~80℃   (4)40 m3 常溫+10℃~80℃   2 低溫試驗(yàn) (1)0.2 m3 -40℃  ?。?) 1m3 -40℃  ?。?)16 m3 -40℃  ?。?)16 m3 -40℃--70℃   3 恒定濕熱 (1)0.2 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H   (2) 1m3 20℃~80℃ 20%~98%R.H  ?。?)16 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H  ?。?)40 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H   4 交變高低溫濕熱 (1)0.2m3 -20℃~80℃ 30%~95%R.   (2)1m3 -40℃~80℃ 20%~98%R.H  ?。?)16 m3 -40℃~80℃ 30%~95%R.H   5 鹽霧試驗(yàn)   35℃~50℃ 250L (1) 中性鹽霧  ?。?) 銅加速乙酸   (3) 交變鹽霧

不管是與人們吃穿住行息息相關(guān)的物質(zhì)生產(chǎn)還是一些對(duì)人們具有間接作用的生產(chǎn),都有他們自己的生產(chǎn)要求和環(huán)境。只有在特定環(huán)境、要求、流程中生產(chǎn)出來的產(chǎn)品,才能流通到大眾手中發(fā)揮他們應(yīng)有的作用。檢驗(yàn)這些產(chǎn)品是否達(dá)到進(jìn)入市場(chǎng)和投入使用的要求就需要對(duì)他們進(jìn)行可靠性環(huán)境測(cè)試??煽啃原h(huán)境測(cè)試是指某種產(chǎn)品在適宜的生產(chǎn)環(huán)境、規(guī)格要求、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、功能實(shí)現(xiàn)等要求下被生產(chǎn)出來,需要先對(duì)這些產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的環(huán)境測(cè)試以測(cè)試他們是否不會(huì)受某種環(huán)境的影響,然后才能將這些產(chǎn)品投入到市場(chǎng)中供給給大眾。安全性測(cè)試與可靠性測(cè)試有什么區(qū)別?

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可靠性試驗(yàn),是指通過試驗(yàn)測(cè)定和驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性。為了測(cè)定、驗(yàn)證或提高產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn),它是產(chǎn)品可靠性工作的一個(gè)重要環(huán)節(jié) 在研制階段使產(chǎn)品達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)。為了使產(chǎn)品能達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo),在研制階段需要對(duì)樣品進(jìn)行可靠性試驗(yàn),以便找出產(chǎn)品在原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問題,而加以改進(jìn),經(jīng)過反復(fù)試驗(yàn)與改進(jìn),就能不斷地提高產(chǎn)品的各項(xiàng)可靠性指標(biāo),達(dá)到預(yù)定的要求。 可靠性測(cè)試項(xiàng)目一般包含: 氣候環(huán)境測(cè)試:高溫測(cè)試、低溫測(cè)試、溫濕度循環(huán)/恒定濕熱測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、快速溫變測(cè)試、低氣壓測(cè)試、光老化測(cè)試、腐蝕測(cè)試等。機(jī)械環(huán)境測(cè)試:振動(dòng)測(cè)試、沖擊測(cè)試、碰撞測(cè)試、跌落測(cè)試。請(qǐng)問有誰(shuí)知道NTC溫度傳感器的可靠性測(cè)試?第三方可靠性測(cè)試

進(jìn)行好的可靠性強(qiáng)化測(cè)試是為滿足用戶服務(wù)提升自身產(chǎn)品可靠性的需求。電子設(shè)備產(chǎn)品可靠性測(cè)試CNAS檢測(cè)報(bào)告

高壓空載,低壓限流態(tài)運(yùn)行試驗(yàn) 測(cè)試說明: 高壓空載運(yùn)行是測(cè)試模塊的損耗情況,尤其是帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊,在空載情況下,軟開關(guān)變?yōu)橛查_關(guān),模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運(yùn)行是測(cè)試模塊在較大輸入電流時(shí),模塊的損耗情況,通常狀態(tài)下,模塊在低壓輸入、滿載輸出時(shí),效率較低,此時(shí)模塊的發(fā)熱較為嚴(yán)重。 試驗(yàn)是模仿電子產(chǎn)品工作狀態(tài)進(jìn)行的,即焊點(diǎn)由于自身的電阻,當(dāng)有電流通過時(shí)會(huì)發(fā)熱,而不工作時(shí)焊點(diǎn)恢復(fù)到室溫,從高溫到室溫意味著焊點(diǎn)經(jīng)受高低溫的變化,在汽車電子中有些部位電子產(chǎn)品中焊點(diǎn)升溫會(huì)達(dá)剄800C以上。如果再加上環(huán)境溫度交替變化那么焊點(diǎn)升溫還會(huì)更高。故該試驗(yàn)方法實(shí)用性強(qiáng),但試驗(yàn)周期長(zhǎng)費(fèi)用高,試驗(yàn)前應(yīng)做好充分準(zhǔn)備。電子設(shè)備產(chǎn)品可靠性測(cè)試CNAS檢測(cè)報(bào)告

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