貴州手動(dòng)探針臺(tái)廠家

磁場探針臺(tái)主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測試，能夠提供磁場或變溫環(huán)境，并進(jìn)行高精度的直流/射頻測量。我們生產(chǎn)各類磁場探針臺(tái)，穩(wěn)定性強(qiáng)、功能多樣、可升級(jí)擴(kuò)展，適用于各大高校、研究所及半導(dǎo)體行業(yè)的實(shí)驗(yàn)研究和生產(chǎn)。詳細(xì)參數(shù)：二維磁場探針臺(tái)，包含兩組磁鐵，可同時(shí)提供垂直與面內(nèi)磁場；面內(nèi)磁鐵極頭間距可根據(jù)樣品尺寸調(diào)整以獲得大的磁場，兼容性強(qiáng)；大兼容7組探針（4組RF，3組DC同時(shí)測試使用）；Y軸提供大行程位移裝置，在不移動(dòng)探針情況下快速抽拉更換樣品；配備樣品臺(tái)傾斜微調(diào)旋鈕，確保樣品平面平行于面內(nèi)磁場方向；至多支持7組探針同時(shí)放置：直流探針（3組）+微波探針（4組）；XY軸位移行程±12.5 mm，T軸旋轉(zhuǎn)±5°；面內(nèi)磁場單獨(dú)施加時(shí)，磁場垂直分量優(yōu)于0.025%。上海勤確科技有限公司您的滿意就是對(duì)我們的支持。貴州手動(dòng)探針臺(tái)廠家

手動(dòng)探針臺(tái)：普遍應(yīng)用于，科研單位研發(fā)測試、院校教學(xué)操作、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室芯片失效分析等領(lǐng)域。一般使用于研發(fā)測試階段，批量不是很大的情況，大批量的重復(fù)測試推薦使用探卡。主要功能：搭配外接測試測半導(dǎo)體參數(shù)測試儀、示波器、網(wǎng)分等測試源表，量測半導(dǎo)體器件IV CV脈沖/動(dòng)態(tài)IV等參數(shù)。用途：以往如果需要測試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能(如電流、電壓、阻抗等)或工作狀態(tài)，測試人員一般會(huì)采用表筆去點(diǎn)測。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)于精密微小(納米級(jí))的微電子器件，表筆點(diǎn)到被測位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生，利用高精度微探針將被測原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來，便于其電性測試設(shè)備(不屬于本機(jī)器)對(duì)此測試、分析。吉林控溫探針臺(tái)生產(chǎn)廠家上海勤確科技有限公司以客戶永遠(yuǎn)滿意為標(biāo)準(zhǔn)的一貫方針。

晶圓測試是在半導(dǎo)體器件制造過程中執(zhí)行的一個(gè)步驟。在此步驟中，在將晶圓送至芯片準(zhǔn)備之前執(zhí)行，晶圓上存在的所有單個(gè)集成電路都通過對(duì)其應(yīng)用特殊測試模式來測試功能缺陷。晶圓測試由稱為晶圓探針器的測試設(shè)備執(zhí)行。晶圓測試過程可以通過多種方式進(jìn)行引用：晶圓終端測試(WFT)、電子芯片分類(EDS)和電路探針(CP)可能是很常見的。晶圓探針器是用于測試集成電路的機(jī)器（自動(dòng)測試設(shè)備）。對(duì)于電氣測試，一組稱為探針卡的微觀觸點(diǎn)或探針被固定在適當(dāng)?shù)奈恢茫瑫r(shí)真空安裝在晶圓卡盤上的晶圓被移動(dòng)到電接觸狀態(tài)。

手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)用領(lǐng)域：Failure analysis集成電路失效分析；Wafer level reliability晶元可靠性認(rèn)證；Device characterization元器件特性量測；Process modeling塑性過程測試(材料特性分析)；IC Process monitoring制成監(jiān)控；Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測試；Flat panel probing液晶面板的特性測試；PC board probing PC主板的電性測試；ESD&TDR testing ESD和TDR測試；Microwave probing微波量測(高頻)；Solar太陽能領(lǐng)域檢測分析；LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測分析。上海勤確科技有限公司終善的服務(wù)、及時(shí)的服務(wù)、正確的服務(wù)，服務(wù)到每一個(gè)客戶滿意。

隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)于精密微小(納米級(jí))的微電子器件，表筆點(diǎn)到被測位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生，利用高精度微探針將被測原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來，便于其電性測試設(shè)備(不屬于本機(jī)器)對(duì)此測試、分析。探針臺(tái)執(zhí)行機(jī)構(gòu)由探針座和探針桿兩部分組成.在探針座有X-Y-Z三向調(diào)節(jié)旋鈕，控制固定在針座上的探針桿做三向移動(dòng)，移動(dòng)范圍12mm，移動(dòng)精度可以達(dá)到0.7微米。這樣可以把探針很好的點(diǎn)到待測點(diǎn)上(說明探針是耗材，一般客戶自己準(zhǔn)備)，探針探測到的信號(hào)可以通過探針桿上的電纜傳輸?shù)脚c其連接的測試機(jī)上，從而得到電性能的參數(shù)。對(duì)于重復(fù)測試同種器件，多個(gè)點(diǎn)位的推薦使用探針臺(tái)安裝探卡進(jìn)行測試。誠信是企業(yè)生存和發(fā)展的根本。安徽高溫探針臺(tái)價(jià)格

主要工作是檢測芯片設(shè)計(jì)的功能是否能夠達(dá)到芯片的技術(shù)指標(biāo)。貴州手動(dòng)探針臺(tái)廠家

手動(dòng)探針臺(tái)的使用方式：1.將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)將樣品待測試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。4.顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測點(diǎn)在顯微鏡視場中心。5.確保針尖和被測點(diǎn)接觸良好后，則可以通過連接的測試設(shè)備開始測試。常見故障的排除當(dāng)您使用本儀器時(shí)，可能會(huì)碰到一些問題，下表列舉了常見的故障及解決方法。手動(dòng)探針臺(tái)技術(shù)參數(shù)。貴州手動(dòng)探針臺(tái)廠家