昆明礦山開采光譜分析儀銷售

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-06-01

原子發(fā)射光譜儀,是將成分復(fù)雜的光分解為光譜線的科學(xué)儀器。它密封在一個(gè)溫度穩(wěn)定的恒溫機(jī)箱里,設(shè)計(jì)小巧,操作簡易,設(shè)備的搬運(yùn)和操作只要一個(gè)人就能完成。這一類儀器一般包括:光源、單色器、檢測器和獨(dú)處器件。原子發(fā)射光譜儀裝備了超高靈敏度的光電倍增管,在全量程范圍內(nèi)使檢測器的動(dòng)態(tài)范圍能鑒別出成分的較微小的差別。原子發(fā)射光譜儀有火花原子發(fā)射光譜儀,光電原子發(fā)射光譜儀,手持式光譜儀,便攜式光譜儀,能量色散光譜儀,真空原子發(fā)射光譜儀等多種品種。原子發(fā)射光譜儀普遍應(yīng)用于鑄造、鋼鐵、金屬回收和冶煉以及、航天航空、電力、化工、高等院校和商檢、質(zhì)檢等部門。經(jīng)典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器。昆明礦山開采光譜分析儀銷售

輔助電源電壓:額定輔助電源電壓是指裝置運(yùn)行時(shí)在其自身電源端口測得的電壓,如有必要,包括制造方提供的或要求裝入的串聯(lián)輔助電阻或附件,但不包括連接電源的導(dǎo)體。額定輔助電源電壓包括交流電源和直流電源。交流電源應(yīng)采用230/400V。注:230/400V將是未來的IEC標(biāo)準(zhǔn)電壓,并推薦在新系統(tǒng)上采用。IEC 標(biāo)準(zhǔn)化工作將在下階段考慮把現(xiàn)有系統(tǒng)中的220/380V和240/415V這些不同電壓歸入230/400V(1±10%)范圍內(nèi)。輔助電源頻率:額定電源頻率的標(biāo)準(zhǔn)值為直流、50Hz和60Hz。手持式光譜分析儀價(jià)格電腦精密多元素分析儀的濃度范圍: 0.000~99.99% 自動(dòng)換檔顯示。

紫外/可見光譜儀設(shè)計(jì)一般都盡量避免在光路中使用透鏡,主要使用反射鏡,以防止由儀器帶來的吸收誤差。當(dāng)光路中不能避免使用透明元件時(shí),應(yīng)選擇對紫外/可見光均透明的材料(如樣品池和參考池均選用石英玻璃)。紫外可見吸收光譜儀是紫外可見光譜儀中的用途較廣的一種,其主要由光源、單色器、吸收池、檢測器以及數(shù)據(jù)處理及記錄(計(jì)算機(jī))等部分組成。紫外/可見光譜儀主要用于化合物的鑒定、純度檢查、異構(gòu)物的確定、位阻作用的測定、氫鍵強(qiáng)度的測定以及其他相關(guān)的定量分析之中,但通常只是一種輔助分析手段,還需借助其他分析方法,例如紅外、核磁、EPR等綜合方法對待測物進(jìn)行分析,以得到很準(zhǔn)的數(shù)據(jù)。

光譜分析儀器光學(xué)系統(tǒng),包括羅蘭圓系統(tǒng)、Czerny-Turner系統(tǒng)、中階梯光柵交叉色散系統(tǒng)以及新型全息光柵色散系統(tǒng)。羅蘭圓系統(tǒng)基于凹面光柵色散,不需其他光學(xué)元件,技術(shù)成熟,是直讀光譜儀的基本結(jié)構(gòu);Czerny-Turner系統(tǒng)基于平面光柵,結(jié)構(gòu)靈活多樣,可實(shí)現(xiàn)高分辨率和小型化,是光譜儀中應(yīng)用比較為普遍的結(jié)構(gòu);中階梯光柵交叉色散系統(tǒng)基于新型的中階梯光柵,采用棱鏡或平面光柵產(chǎn)生交叉色散,形成二維光譜圖像,能夠?qū)崿F(xiàn)全譜瞬態(tài)直讀;新型全息光柵色散系統(tǒng)主要包括平場全息光柵色散系統(tǒng)和Ⅳ型全息光柵色散系統(tǒng),結(jié)構(gòu)簡單、像質(zhì)好,適合微小型光譜儀的研制。對每一種系統(tǒng),分別從色散光路、應(yīng)用領(lǐng)域、優(yōu)勢與不足等方面進(jìn)行了歸納和比較。電腦多元素分析儀是國內(nèi)較新型的一款多元素分析儀。

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級光電子,發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。微機(jī)多元素分析儀可檢測鋼鐵等材料中所有常規(guī)元素C、S、Mn、P、Si、Ti、Al、W、V、Zn、Fe等。手持式光譜分析儀價(jià)格

對于變頻功率分析儀而言,額定頻率范圍應(yīng)該是一組包含下限和上限的數(shù)值。昆明礦山開采光譜分析儀銷售

把光譜儀安裝在光密封的外殼內(nèi)可以有效地消除周圍環(huán)境帶來的雜散光。當(dāng)光譜儀工作在探測極限時(shí)(微弱光探測),則來自于光學(xué)平臺、光柵、聚焦鏡的雜散光強(qiáng)度就決定了光譜儀的比較終探測極限。大多數(shù)光柵都是全息型光柵,雜散光很低。雜散光的測試方法是用激光束照射到光譜儀上,然后測量遠(yuǎn)離激光波長處象元的光強(qiáng)。另一種方法是用鹵鎢燈作為光源并配合長通或帶通濾光片進(jìn)行測試。對于低線對數(shù)光柵(寬可測波長范圍)來說,往往會發(fā)生光柵的二級衍射光之間的重疊。這些高級次衍射光在大多數(shù)場合可以忽略不計(jì),但在某些場合下則必須考慮。解決的方法就是把信號光限制在不可能出現(xiàn)級次重疊的光譜區(qū)。具體的方法可以通過在光譜儀入口的 SMA 接口處安裝一個(gè)長通濾光片或在探測器前面的保護(hù)窗鏡上鍍特殊膜層來實(shí)現(xiàn)。昆明礦山開采光譜分析儀銷售

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