探傷儀磁粉探傷方法磁粉探傷是建立在漏磁原理基礎(chǔ)上的一種磁力探傷方法。當(dāng)磁力線穿過(guò)鐵磁材料及其制品時(shí)，在其（磁性）不連續(xù)處將產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，形成磁極。此時(shí)撒上干磁粉或澆上磁懸液，磁極就會(huì)吸附磁粉，產(chǎn)生用肉眼能直接觀察的明顯磁痕。因此，可借助于該磁痕來(lái)顯示鐵磁材料及其...

便攜式地物光譜儀特點(diǎn)：使用512陣元陣列PDA探測(cè)器和兩個(gè)自立的InGaAs探測(cè)器；每秒比較快可得到10個(gè)光譜曲線；內(nèi)置光閘,漂移鎖定暗電流補(bǔ)和分段二級(jí)光譜濾光片等為用戶提供無(wú)差錯(cuò)的數(shù)據(jù)；實(shí)時(shí)測(cè)量并觀察反射、透射、輻射度（選項(xiàng)）；實(shí)時(shí)顯示光譜線，更高的信噪比，...

探傷儀鋼鍛件中的白點(diǎn)--波峰尖銳清晰，常為多頭狀，反射強(qiáng)烈，起波速度快，回波前沿陡峭，回波后沿斜率很大，在移動(dòng)探頭時(shí)回波位置變化迅速，此起彼伏，多處于被檢件例如鋼棒材的中心到1/2半徑范圍內(nèi)，或者鋼鍛件厚度較大的截面的1/4~3/4中層位置，有成批出現(xiàn)的特點(diǎn)（...

功率應(yīng)分別標(biāo)稱有功功率和基波有功功率的準(zhǔn)確級(jí)；對(duì)于電壓、電流具備多個(gè)量程的分析儀，標(biāo)稱的準(zhǔn)確級(jí)應(yīng)適用每個(gè)量程。標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)確級(jí)：變頻功率分析儀的電壓、電流測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)確級(jí)為：0.05、0.1、0.2、0.5、1；變頻功率分析儀的功率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)基本準(zhǔn)確級(jí)為： 0.1、...

進(jìn)行光譜分析的光譜儀,尤其涉及基于F-P標(biāo)準(zhǔn)具時(shí)序分光的光譜儀.本發(fā)明的光譜儀包括準(zhǔn)直器,可調(diào)濾波器,探測(cè)器,控制采集系統(tǒng)和驅(qū)動(dòng)系統(tǒng),被測(cè)光通過(guò)準(zhǔn)直器入射到可調(diào)濾波器上,由驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)可調(diào)濾波器,使可調(diào)濾波器的透過(guò)波長(zhǎng)時(shí)序地變化,從而使帶檢測(cè)光中的不同波長(zhǎng)的光...

光譜分類：在白光通過(guò)氣體時(shí)，氣體將從通過(guò)它的白光中吸收與其特征譜線波長(zhǎng)相同的光，使白光形成的連續(xù)譜中出現(xiàn)暗線。此時(shí)，這種在連續(xù)光譜中某些波長(zhǎng)的光被物質(zhì)吸收后產(chǎn)生的光譜被稱作吸收光譜。通常情況下，在吸收光譜中看到的特征譜線會(huì)少于線狀光譜。當(dāng)光照射到物質(zhì)上時(shí)，會(huì)發(fā)...

直讀光譜儀品種分為火花直讀光譜儀，光電直讀光譜儀，原子發(fā)射光譜儀，原子吸收光譜儀，真空直讀光譜儀，直讀光譜儀分為臺(tái)式機(jī)和立式機(jī)。直讀光譜儀普遍應(yīng)用于鑄造，鋼鐵，金屬回收和冶煉以及、航天航空、電力、化工、高等院校和商檢，質(zhì)檢等單位。工作原理分類：根據(jù)現(xiàn)代光譜儀器...

功率分析儀的特點(diǎn)：功率分析儀主要用來(lái)測(cè)量電機(jī)、變頻器、變壓器等功率轉(zhuǎn)換裝置的功率、效率等參量。被普遍用于混合動(dòng)力電動(dòng)汽車、電動(dòng)車、太陽(yáng)能發(fā)電、風(fēng)力發(fā)電、變頻器、變頻電機(jī)和燃料電池等的功率計(jì)算和分析。部分分析儀，如變頻功率分析儀，還具備實(shí)時(shí)波形、波形數(shù)據(jù)記錄及諧...

光譜分析原理：每一條所發(fā)射的譜線的波長(zhǎng)，取決于躍遷前后兩個(gè)能級(jí)之差。由于原子的能級(jí)很多，原子在被激發(fā)后，其外層電子可有不同的躍遷，但這些躍遷應(yīng)遵循一定的規(guī)則(即“光譜選律”)，因此對(duì)特定元素的原子可產(chǎn)生一系列不同波長(zhǎng)的特征光譜線，這些譜線按一定的順序排列，并保...

探傷儀渦流探傷是由交流電流產(chǎn)生的交變磁場(chǎng)作用于待探傷的導(dǎo)電材料，感應(yīng)出電渦流。如果材料中有缺陷，它將干擾所產(chǎn)生的電渦流，即形成干擾信號(hào)。用渦流探傷儀檢測(cè)出其干擾信號(hào)，就可知道缺陷的狀況。影響渦流的因素很多，即是說(shuō)渦流中載有豐富的信號(hào)，這些信號(hào)與材料的很多因素有...

探傷儀探傷過(guò)程中，首先要了解圖紙對(duì)焊接質(zhì)量的技術(shù)要求。鋼結(jié)構(gòu)的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)是依據(jù)GB50205-2001《鋼結(jié)構(gòu)工程施工質(zhì)量驗(yàn)收規(guī)范》來(lái)執(zhí)行的。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：對(duì)于圖紙要求焊縫焊接質(zhì)量等級(jí)為一級(jí)時(shí)評(píng)定等級(jí)為Ⅱ級(jí)時(shí)規(guī)范規(guī)定要求做100%超聲波探傷；對(duì)于圖紙要求焊縫焊接質(zhì)量...

渦流探傷儀支持任何渦流：參數(shù)，差分，動(dòng)態(tài)（旋轉(zhuǎn)）轉(zhuǎn)換器以及各種阻抗轉(zhuǎn)換器。探傷儀設(shè)計(jì)用于控制金屬產(chǎn)品，碳纖維復(fù)合材料，以確定是否存在缺陷，如表面和次表面裂紋，材料的不連續(xù)性和均勻性，半成品和各種材料的成品。渦流探傷儀可用于測(cè)量奧氏體不銹鋼和珍珠巖不銹鋼鉻鎳鋼中...

光譜學(xué)是一門主要涉及物理學(xué)及化學(xué)的重要交叉學(xué)科，通過(guò)光譜來(lái)研究電磁波與物質(zhì)之間的相互作用。光是一種由各種波長(zhǎng)（或者頻率）的電磁波疊加起來(lái)的電磁輻射。光譜是一類借助光柵、棱鏡、傅里葉變換等分光手段將一束電磁輻射的某項(xiàng)性質(zhì)解析成此輻射的各個(gè)組成波長(zhǎng)對(duì)此性質(zhì)的貢獻(xiàn)的...

手持式X熒光光譜儀是是為野外、現(xiàn)場(chǎng)X熒光分析應(yīng)用專門開發(fā)的儀器，可應(yīng)用于各類地質(zhì)礦樣多元素檢測(cè)和分析、礦渣精煉分析及考古研究，有長(zhǎng)時(shí)間工作、輕巧方便等優(yōu)點(diǎn)。手持式能量色散分析儀，是為野外、現(xiàn)場(chǎng)X熒光分析應(yīng)用專門開發(fā)的儀器類型。具有體積小、重量輕通人可手持測(cè)量的...

光譜分析：由于每種原子都有自己的特征譜線，因此可以根據(jù)光譜來(lái)鑒別物質(zhì)和確定它的化學(xué)組成．這種方法叫做光譜分析．做光譜分析時(shí)，可以利用發(fā)射光譜，也可以利用吸收光譜．這種方法的優(yōu)點(diǎn)是非常靈敏而且迅速．某種元素在物質(zhì)中的含量達(dá)10^-10(10的負(fù)10次方)克，就可...

餅類和碗類鍛件的鍛造工藝主要以鐓粗為主，缺陷的分布主要平行于端面，所以用直探頭在端面探測(cè)是檢出缺陷的較佳方法。對(duì)于上些重要的餅類、碗類鍛件，要從兩個(gè)端面進(jìn)行探傷，此外有時(shí)還要從側(cè)面進(jìn)行徑向探傷，從兩端面探測(cè)時(shí)，探頭置于鍛件端面進(jìn)行多方面探測(cè)，以探出與端面平行的...

光譜分析儀的工作原理：正常情況下，原子處于基態(tài)，核外電子在各自能量較低的軌道上運(yùn)動(dòng)。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級(jí)之間的能級(jí)差E時(shí)，該原子將吸收這一特征波長(zhǎng)的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài)，...

探傷儀A型：是以波形來(lái)顯示組織特征的方法，主要用于測(cè)量身體的徑線，以判定其大小?？捎脕?lái)鑒別病變組織的一些物理特性，如實(shí)質(zhì)性、液體或是氣體是否存在等。B型：用平面圖形的形式來(lái)顯示被探查組織的具體情況。檢查時(shí)，將人體界面的反射信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)閺?qiáng)弱不同的光點(diǎn)，這些光點(diǎn)可通...

檢測(cè)磁粉探傷儀所配探頭，確保A型馬蹄式探頭、D型磁軛探頭各活動(dòng)關(guān)節(jié)；活動(dòng)、鎖緊自如。確保E型旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)探頭四個(gè)腳上的滾輪活動(dòng)自如；檢測(cè)探頭磁軛與工件的接觸平面，表面平整、無(wú)銹斑；檢測(cè)探頭與主機(jī)的連線緊固；檢測(cè)電源電壓正常；檢測(cè)A型探頭：準(zhǔn)備二塊鐵餅，一塊重7KG...

功率分析儀的特點(diǎn)：寬幅值范圍，普通傳感器及儀表一般只能在較窄的范圍內(nèi)保證測(cè)量準(zhǔn)確度，對(duì)于被測(cè)信號(hào)變化范圍較寬時(shí)，通常采用多個(gè)傳感器結(jié)合換擋開關(guān)進(jìn)行換擋，以拓寬測(cè)量范圍。WP3000變頻功率分析儀在一個(gè)傳感器在其內(nèi)部設(shè)置8 個(gè)檔位，每個(gè)檔位只測(cè)量在本檔位量程的5...

光譜分析儀采用的自立出射狹縫為國(guó)內(nèi)自創(chuàng)，世界先進(jìn)。金屬整縫的特點(diǎn)是儀器調(diào)試方便、快捷，便于出射狹縫增加通道(用戶可光考慮目前應(yīng)用的元素，以后需要的通道可隨時(shí)增加)節(jié)約成本。自動(dòng)高壓系統(tǒng)為世界先進(jìn)水平。該系統(tǒng)可通過(guò)計(jì)算機(jī)控制每個(gè)通道提供8檔高壓，使同一通道可以在...

光譜分析儀用先進(jìn)的噴射電極技術(shù)，使用鎢材料電極，在激發(fā)狀態(tài)下，電極周圍會(huì)形成氬氣噴射氣流，這樣在激發(fā)過(guò)程中激發(fā)點(diǎn)周圍不會(huì)與外界空氣接觸，提高激發(fā)精度；配上獨(dú)特的激發(fā)臺(tái)及氬氣氣路設(shè)計(jì)，很大降低了氬氣使用量。光譜分析儀采用高性能CCD器件、高性能FPGA、DSP及...

光譜分析：光譜分析方法具有極高的靈敏度和準(zhǔn)確度．在地質(zhì)勘探中利用光譜分析就可以檢驗(yàn)礦石里所含微量的貴重金屬、稀有元素或放射性元素等．用光譜分析速度快，很大提高了工作效率．還可以用光譜分析研究天體的化學(xué)成分以及校定長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)原器等．復(fù)色光經(jīng)過(guò)色散系統(tǒng)（如棱鏡、光...

野外光譜測(cè)試儀是一種用于地球科學(xué)領(lǐng)域的分析儀器。野外光譜分析儀具有高光譜分辨率； 實(shí)時(shí)測(cè)量并觀察反射、透射、輻射度（選項(xiàng)）光譜曲線； 可以實(shí)時(shí)顯示肯定反射比（需要定標(biāo)的白板數(shù)據(jù)）； 高信噪比，高可靠性，高重復(fù)性； 標(biāo)配大視場(chǎng)角光纖接收端； 重量輕，真正的便攜式...

磁粉探傷儀的性能決定了檢測(cè)結(jié)果的精確性，為了確保檢測(cè)的質(zhì)量安全，我們有必要在檢測(cè)前對(duì)磁粉探傷儀的性能進(jìn)行檢測(cè)。磁粉探傷儀的性能檢測(cè)，根據(jù)“JBT7411-1994電磁軛探傷儀技術(shù)條件”“JB-T6870-2005攜帶式旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)探傷儀技術(shù)條件”兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，探傷儀性...

探傷儀像是我們熟知的粉探傷儀適用于零件表面的探傷，主要適用于濕磁粉法檢測(cè)曲軸、凸輪軸、花鍵軸等各種中小型零件的表面及近表面因鑄造、淬火、加工、疲勞等原因引起的裂紋及細(xì)微缺陷，是單件檢測(cè)，小批抽檢，大批量檢測(cè)的好的選擇機(jī)型。輕小，可以到現(xiàn)場(chǎng)探傷乃至高空進(jìn)行探傷作...

手持式光譜分析儀,其中包括手柄;主板,所述主板上設(shè)置于手柄的上方;第二光源組,設(shè)置于所述主板的一側(cè);光譜儀,所述光譜儀設(shè)置于所述主板的一側(cè);轉(zhuǎn)接頭,所述轉(zhuǎn)接頭為可拆卸轉(zhuǎn)接頭;液體流通池,所述液體流通池設(shè)置于所述轉(zhuǎn)接頭背離所述第二光源組的一側(cè);一光源組,所述一光...

探傷儀超聲檢測(cè)技術(shù)對(duì)缺陷定性評(píng)定的其他方法，超聲C掃描和B掃描這是將直通回波以線型方式顯示缺陷的平面投影形狀（C掃描）或缺陷在深度截面上反射面的平直、彎曲，即反射界面的形狀（B掃描），從而幫助判斷缺陷的種類和性質(zhì)。超聲全息借助全息原理，將缺陷反射的大量信息數(shù)據(jù)...

變頻功率分析儀是指以變頻電量為基本測(cè)量與分析對(duì)象的儀器/裝置。變頻電量是指用于傳輸功率的，并且滿足下述條件之一的交流電量：信號(hào)頻譜光包含一種頻率成分，而頻率不局限于工頻的交流電信號(hào)。信號(hào)頻譜包含兩種或更多的被關(guān)注的頻率成分的電信號(hào)。變頻電量包括：電壓、電流、有...

探傷儀靜態(tài)波形——探測(cè)時(shí)探頭和缺陷相同穩(wěn)定時(shí)波形。各種缺陷內(nèi)部含的物質(zhì)不同，對(duì)入射的聲波吸收情況不同。探頭探測(cè)時(shí)回波高度、形狀各不相同。動(dòng)態(tài)波形探測(cè)時(shí)探頭和缺陷相對(duì)移動(dòng)，移動(dòng)方式為：平移、前后移、環(huán)繞缺陷、轉(zhuǎn)動(dòng)等。觀察缺陷波的變化情況，并用缺陷波前面的包絡(luò)線來(lái)...