撫州射頻測(cè)試廠家

為什么我們需要射頻測(cè)試？由于全球射頻應(yīng)用眾多，因此有的涉及射頻能量的產(chǎn)品和系統(tǒng)必須在其電磁環(huán)境中運(yùn)行，并且不會(huì)將無法容忍的電磁干擾引入環(huán)境中。因此，在產(chǎn)品或系統(tǒng)投放市場(chǎng)之前，必須對(duì)其進(jìn)行射頻抗擾度和發(fā)射測(cè)試，才能在市場(chǎng)上更好地發(fā)揮它的作用。對(duì)于射頻抗擾度測(cè)試，設(shè)備暴露在射頻干擾和場(chǎng)中，其場(chǎng)強(qiáng)和頻率范圍在其操作環(huán)境中表示。當(dāng)對(duì)一臺(tái)設(shè)備進(jìn)行射頻發(fā)射測(cè)試時(shí)，在正常操作下，該設(shè)備會(huì)受到射頻干擾和場(chǎng)的檢測(cè)。射頻 (RF) 測(cè)試模擬無線電和電信設(shè)備的功能和性能，以確保設(shè)備不僅會(huì)干擾無線電頻譜的其他用戶。撫州射頻測(cè)試廠家

下面我們介紹常見的幾種射頻功率測(cè)量方法，在此之前我們還需要明確一件事——在頻域測(cè)試測(cè)量中，為什么習(xí)慣以功率來描述信號(hào)強(qiáng)度，而不是像時(shí)域測(cè)試測(cè)量中常用的電壓和電流?那是因?yàn)樵谏漕l電路中，由于傳輸線上存在駐波，電壓和電流失去了特有性，所以射頻信號(hào)的大小一般用功率來表示，國(guó)際通用的功率單位為W、mW、dBm。頻譜分析儀和功率計(jì)都是可以測(cè)量射頻功率的，功率計(jì)又分為吸收式功率計(jì)與通過式功率計(jì)兩種。同樣是功率測(cè)量，不同的測(cè)試儀器和測(cè)試方法所關(guān)注的重點(diǎn)是不同的。射頻功率的測(cè)量方法有三種：頻譜分析儀測(cè)量；吸收式功率測(cè)量；通過式功率測(cè)量。南昌射頻芯片測(cè)試射頻RF 測(cè)試有助于評(píng)估產(chǎn)品發(fā)出的輻射，這些輻射也必須在可接受的范圍內(nèi)才能獲得監(jiān)管合規(guī)性。

什么是射頻測(cè)試？RF測(cè)試或射頻測(cè)試評(píng)估無線電和電信設(shè)備，以確保不會(huì)對(duì)周圍RF環(huán)境的設(shè)備和用戶產(chǎn)生干擾。測(cè)試包括評(píng)估設(shè)備對(duì)無線電頻譜的使用以及發(fā)射和吸收的射頻輻射對(duì)在附近運(yùn)行的無線電設(shè)備的影響。還有用于評(píng)估與其他設(shè)備的兼容性的協(xié)議測(cè)試。協(xié)議測(cè)試的例子包括：1.智能設(shè)備通訊2.藍(lán)牙3.蜂巢

無線射頻測(cè)試項(xiàng)目：1.發(fā)射功率測(cè)試（傳導(dǎo)法，輻射法）；發(fā)射瞬態(tài)功率測(cè)試；2.發(fā)射鄰道和次鄰道功率測(cè)試；發(fā)射寬帶測(cè)試；3.發(fā)射頻譜特性；發(fā)射頻率誤差相位誤差；4.發(fā)射雜散測(cè)試（傳導(dǎo)法，輻射法）；5.接收比較大可用靈敏度；接受相鄰?fù)ǖ赖倪x擇；6.接收信號(hào)阻塞；接收同信道抑制；7.接收雜散響應(yīng)抑制；接收互調(diào)響應(yīng)抑制；SAR測(cè)試。

射頻測(cè)試適用于哪些產(chǎn)品呢？有以下幾種類型的產(chǎn)品，可以用射頻測(cè)試來測(cè)試產(chǎn)品的1.短距離無線遙控產(chǎn)品（SRD）例如：遙控玩具、溫濕度傳輸器、無線鼠標(biāo)、無線鍵盤、遙控開關(guān)、藍(lán)牙產(chǎn)品、智能穿戴設(shè)備、WiFi產(chǎn)品、無線遙控器、ZigBee，LoRa等.2.專業(yè)無線電遙控產(chǎn)品（PMR），例如：專業(yè)無線對(duì)講機(jī)、無線麥克風(fēng)、無線電話CTO、CT1、CT1+...ISDN（數(shù)字電話產(chǎn)品）、DECT（增強(qiáng)型數(shù)字無繩電話）、GSM、CDMA....等2.2G/3G/4G通信產(chǎn)品4.基站、直放站。射頻功率的測(cè)量方法有：頻譜分析儀測(cè)量、吸收式功率測(cè)量、吸收式功率測(cè)量等。

射頻測(cè)試中射頻探針的基本要求和工作原理：1）探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。2）為了能同時(shí)接觸到DUT的信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過程被稱為“探針的平面化”。3）探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專門校準(zhǔn)方法的開發(fā)。4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來自探針線和到同軸連接器的過渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過由射頻電纜和連接器的誤差相類似的方式而抵消的。5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。射頻(RF)又稱射頻電流，表示可以輻射到空間的電磁頻率，頻率范圍在300kHz～300GHz之間。湛江智能手表射頻測(cè)試系統(tǒng)

射頻器件主要包括三類：一是天線開關(guān)器件、二是功率器件、三是天線器件。撫州射頻測(cè)試廠家

人們?cè)绮捎蒙漕l測(cè)試探針技術(shù)與現(xiàn)在的工具是很不相同的，早期探針使用了由一個(gè)很短的線極尖(wire tip)而逐漸收斂的50-Ω微帶線，通過探針基片上一個(gè)小孔而與被測(cè)器件(DUT)的壓點(diǎn)（pad）相接觸。此時(shí)，其技術(shù)難度在于如何突破4GHz時(shí)實(shí)現(xiàn)可重復(fù)測(cè)量。雖然有可能通過校準(zhǔn)過程來剔除一個(gè)接觸線極尖相對(duì)較大的串聯(lián)電感的影響，但當(dāng)圓晶片的夾具被移動(dòng)時(shí)，線極尖的輻射阻抗會(huì)有較大的變化。高頻測(cè)量使用的極尖設(shè)計(jì)與用于直流和低頻測(cè)量的極尖不同，而且必須使50-Ω環(huán)境盡可能地接近于DUT壓點(diǎn)。撫州射頻測(cè)試廠家

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