鋼鐵光譜儀含量分析儀器

紫砂壺的手持式光譜儀X射線熒光光譜分析，這是對陶瓷及紫砂物質元素分析研究領域中，**為可行、**便捷、相對可靠性較高，具具有無損特性、重復測試一致性高、檢測速度快及檢測成本低等諸多優(yōu)點的有效辦法，基于其半定量的分析特性，需要依靠大量的光譜標樣來進行分析比對，手持式光譜儀持續(xù)不斷的累積各類紫砂礦樣本、各類添加與不添加化工原料及碳酸鋇的試片樣本、從明清到現代的紫砂器實物樣本，持續(xù)累積并建立了高達數千件的光譜數據庫。贏洲科技是奧林巴斯中國區(qū)指定售服中心。鋼鐵光譜儀含量分析儀器

Vanta系列：堅固耐用、改進創(chuàng)新、高效多產Vanta分析儀是奧林巴斯迄今為止為用戶提供的**的手持式X射線熒光（XRF）設備，可以為那些要求在野外環(huán)境獲得精細分析水平的用戶，進行快速精確的元素分析和合金辨別。Vanta手持式XRF分析儀是一款堅固耐用的設備。Vanta分析儀堅固耐用的機身結構設計使其不會輕易受到損傷，因此可以工作更長的時間，并降低用戶的擁有成本。Vanta系列分析儀的界面瀏覽簡單直觀，而且用戶可以對其軟件自行配置，所以操作人員只需接受簡單的基礎培訓，就可以輕松地使用分析儀，用戶也因此會獲得非常高的分析量，并迅速獲得投資回報。Vanta分析儀使用其特有的創(chuàng)新型Axon技術，在更多樣復雜的環(huán)境中或工作條件下，都可以為用戶提供精確的結果，并有助于生產率的提高。在高溫、雨淋等惡劣的條件下具有不同尋常的耐用性能。***的分析性能。可選的Wi-Fi和藍牙功能，可使用戶實時進行數據分享?？梢詰迷萍夹g。簡單直觀的用戶界面。奧林巴斯便攜式X射線熒光光譜儀重金屬分析儀贏洲科技主營產品包括：手持式合金光譜分析儀。

02樣件條件手持式光譜儀合金分析儀的工作方式可以總結如下：（1）發(fā)出X射線；（2）X射線返回到探測器；（3）使用復雜的數學算法處理數據；（4）對牌號進行辨別（圖2）。X射線熒光是一種表面檢測技術。對于某些輕合金來說，如：鋁合金，XRF技術只能檢測樣件表面以下幾百微米的深度。對于一些主要金屬，如：鐵或銅，XRF技術可以檢測的樣件深度不到一百微米。而對于致密的材料，如：金或鉛，則只能檢測樣件表面以下幾十微米的深度。這意味著，在使用X射線熒光技術進行檢測時，材料的表面必須要準確地體現整個材料的組成成分，才可以獲得可靠的檢測數據。表面上的污染，如：油漆、保護層和電鍍層，可能會嚴重歪曲分析的結果。同樣，噴砂或噴丸處理以及研磨后存留在表面上的物質，甚至污垢，都可能影響材料成分的辨別結果。因此在使用XRF技術檢測樣件之前，一定要使樣本清潔無塵。

手持式合金光譜儀（手持式合金分析儀）用于現場，無損，快速，準確分析檢測合金元素和合***號的識別。合金材料鑒別（PMI）：來料檢驗；庫存材料管理；安裝材料復檢由于在石化建設，金屬冶煉，壓力容器，電力電站，石油化工，精細化工，制藥，航空航天等行業(yè)中，混料或使用不合格的材料會產生嚴重的安全事故。金屬廢料回收廢舊金屬的回收、再利用需要OLYMPUS便攜式XRF合金分析儀，確保對大量繁雜多樣的合金種類及材料品質，進行現場快速準確的分析檢測。為購銷雙方在原材料交易時作出迅速、可靠的判定，并提供必要的信息。質量保證與質量控制（QA/QC）在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質量保證與質量控制（QA/QC）是必不可少的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。OLYMPUS便攜式XRF合金分析儀被***用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機制造商的各種制造業(yè)。已成為質量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的優(yōu)先儀器。贏洲科技多年來公司主營行業(yè)包括：石油石化。

高效多產Vanta分析儀可以在很大程度上提高用戶的分析量，并使數據歸檔操作簡單易行。針對特定應用的各種軟件功能可以提高用戶的生產效率，從而使用戶更快地獲得投資回報。簡單直觀的用戶界面（UI）可使用戶快速瀏覽分析儀的設置和軟件功能。用戶可以自行決定主屏幕上顯示的功能快捷鍵。通過USB閃存驅動盤、Wi-Fi或藍牙完成的數據導出操作非常簡單。在任何光線條件下，觸摸顯示屏都具有清晰、明亮、可讀的特性。符合人體工程學要求的按鈕以及工業(yè)級別的操控桿按鈕，可使用戶在戴著手套的情況下，也能輕松地瀏覽分析儀的用戶界面。嵌入式GPS功能可以將精確的GPS坐標與結果一起存儲，以便建立文檔并繪制元素位置的映射圖。可選5百萬像素全景攝像頭；將帶有XRF數據的圖像與GPS坐標綜合在一起使用。簡潔的報告制作和歸檔操作，具有很好的追溯數據到野外的性能。贏洲科技主營產品包括：手持式文博考古光譜分析儀。色散X熒光光譜儀重金屬分析儀器

贏洲科技提供奧林巴斯（Olympus）分析儀器銷售及儀器售后服務。鋼鐵光譜儀含量分析儀器

03樣件表面的溫度XRF分析技術所使用的X射線的物理特性基本上不會隨著樣件溫度的變化而改變。此外，VantaXRF分析儀的設計目標是：不受環(huán)境條件變化的影響，始終發(fā)揮其可靠的檢測性能。分析儀在-10°C到50°C的溫度范圍內操作時，不會出現熱漂移或性能下降的現象。2Vanta分析儀在無需改造的情況下，可以在樣件溫度高達約100°C時，對樣件進行正常檢測。超過這個溫度，作為分析儀窗口一部分的聚丙烯紡織纖維膜會很容易受到損壞。奧林巴斯為用戶提供了一種可以在高溫檢測時使用的高溫墊片。這種高溫墊片包含一種聚酰亞胺窗口，可使分析儀對溫度高達315°C的樣件進行檢測。鋼鐵光譜儀含量分析儀器