北京高速光學(xué)非接觸式應(yīng)變系統(tǒng)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-07-29

    光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)的技術(shù)原理主要基于雙目立體視覺(jué)技術(shù)和數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)。系統(tǒng)通過(guò)左右兩個(gè)相機(jī)拍攝的圖像對(duì),利用相關(guān)匹配算法計(jì)算圖像中的視差,從而重建出物體表面的三維形貌。在物體發(fā)生變形時(shí),系統(tǒng)會(huì)比較變形前后的圖像,通過(guò)圖像像素點(diǎn)的移動(dòng)來(lái)計(jì)算出物體表面的位移及應(yīng)變分布。此外,光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用范圍廣泛,不僅適用于室內(nèi)外普通環(huán)境,還可以在極端溫度、高速加載等特殊條件下使用。這使得它非常適合于各種材料的力學(xué)性能測(cè)試,如金屬、塑料、橡膠、復(fù)合材料等。它同樣可以用于實(shí)際組件的變形和應(yīng)變分析,包括成形極限曲線(xiàn)、殘余應(yīng)力分析等。同時(shí),這一技術(shù)還能夠?yàn)橛邢拊治鎏峁?zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),幫助驗(yàn)證和優(yōu)化仿真模型??偟膩?lái)說(shuō),光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)以其非侵入性、高精度和廣泛的應(yīng)用范圍,在現(xiàn)代材料科學(xué)研究和工程應(yīng)用中發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。它為研究者提供了一個(gè)有效的工具,以更好地理解和分析材料在不同加載條件下的力學(xué)行為,對(duì)于推動(dòng)新材料的開(kāi)發(fā)和新工藝的優(yōu)化具有重要意義。 光學(xué)應(yīng)變測(cè)量可以間接推斷出物體內(nèi)部的應(yīng)力分布,為材料力學(xué)性能研究提供了重要數(shù)據(jù)。北京高速光學(xué)非接觸式應(yīng)變系統(tǒng)

北京高速光學(xué)非接觸式應(yīng)變系統(tǒng),光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量

    光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量在實(shí)際應(yīng)用中需要克服各種環(huán)境因素的干擾,如光照變化、振動(dòng)或溫度波動(dòng)等。以下是一些常見(jiàn)的方法和技術(shù),用于減小或消除這些干擾:光照變化:使用穩(wěn)定的光源:選擇穩(wěn)定性高的光源,如LED光源或激光器,可以減小光照變化對(duì)測(cè)量的影響。使用濾光片:在光路中加入適當(dāng)?shù)臑V光片,可以調(diào)節(jié)光線(xiàn)的強(qiáng)度和頻譜,減少光照變化的影響??刂骗h(huán)境光:盡量在相對(duì)受控的環(huán)境光條件下進(jìn)行測(cè)量,避免強(qiáng)光或陰影對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。振動(dòng)干擾:使用穩(wěn)定支架:將測(cè)量設(shè)備安裝在穩(wěn)定的支架上,減小外部振動(dòng)對(duì)測(cè)量的干擾。振動(dòng)隔離:使用振動(dòng)隔離臺(tái)或減振裝置,將測(cè)量系統(tǒng)與外部振動(dòng)隔離開(kāi)來(lái),提高測(cè)量精度。選取合適的測(cè)量時(shí)機(jī):盡量在振動(dòng)較小的時(shí)間段內(nèi)進(jìn)行測(cè)量,避免振動(dòng)干擾對(duì)結(jié)果的影響。溫度波動(dòng):溫度補(bǔ)償:對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行溫度校準(zhǔn)和補(bǔ)償,確保測(cè)量結(jié)果不受溫度波動(dòng)的影響。環(huán)境控制:盡量在溫度相對(duì)穩(wěn)定的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量,避免大幅度的溫度波動(dòng)對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。使用溫度補(bǔ)償材料:在測(cè)量對(duì)象表面附加溫度補(bǔ)償材料,可以幫助減小溫度變化對(duì)應(yīng)變測(cè)量的影響。 廣西掃描電鏡非接觸式系統(tǒng)哪里可以買(mǎi)到光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是一種不會(huì)對(duì)物體表面造成損傷的測(cè)量方法。

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    光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量的原理主要基于光學(xué)原理,利用光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)來(lái)測(cè)量物體的應(yīng)變情況。具體來(lái)說(shuō),這種測(cè)量方式通過(guò)光線(xiàn)照射在被測(cè)物體上,并測(cè)量反射光線(xiàn)的位移來(lái)計(jì)算應(yīng)變情況。在實(shí)際應(yīng)用中,光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)結(jié)合了激光或數(shù)碼相機(jī)與記錄系統(tǒng)和圖像測(cè)量技術(shù)。通過(guò)捕捉物體表面的圖像,并利用圖像處理技術(shù),可以精確計(jì)算物體在測(cè)試過(guò)程中的多軸位移、應(yīng)變和應(yīng)變率。這種測(cè)量方法中最常見(jiàn)的技術(shù)包括激光器、光學(xué)線(xiàn)掃描儀和數(shù)字圖像相關(guān)(DIC)軟件。例如,激光器可以發(fā)射激光束照射在被測(cè)物體上,然后通過(guò)測(cè)量反射光的位移來(lái)計(jì)算應(yīng)變。而DIC軟件則可以通過(guò)分析物體表面的圖像變化,計(jì)算出物體的位移和應(yīng)變。

    光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是一種先進(jìn)的技術(shù),用于測(cè)量材料或結(jié)構(gòu)體表面的應(yīng)變情況,而無(wú)需直接接觸樣品。這種技術(shù)通?;诠鈱W(xué)原理和影像處理技術(shù),能夠提供高精度和非破壞性的應(yīng)變測(cè)量。工作原理和技術(shù):光柵投影測(cè)量:這種方法利用投影在表面上的光柵,通過(guò)測(cè)量光柵在不同應(yīng)變下的形變來(lái)計(jì)算應(yīng)變值。這種方法通常使用專(zhuān)門(mén)的投影系統(tǒng)和相機(jī)進(jìn)行測(cè)量,精度可以達(dá)到亞微米級(jí)別。數(shù)字圖像相關(guān)法:這種方法使用數(shù)字圖像處理技術(shù),通過(guò)分析連續(xù)圖像的位移或形變來(lái)計(jì)算表面的應(yīng)變。它可以在不同條件下進(jìn)行測(cè)量,并且對(duì)材料表面的反射性質(zhì)不敏感。全場(chǎng)激光干涉法:全場(chǎng)激光干涉法通過(guò)測(cè)量光干涉條紋的形變來(lái)確定表面的應(yīng)變。這種方法適用于需要高空間分辨率和靈敏度的應(yīng)變測(cè)量。數(shù)字全息干涉術(shù):使用數(shù)字全息技術(shù)記錄材料表面的光波場(chǎng),通過(guò)分析光波場(chǎng)的變化來(lái)計(jì)算應(yīng)變。這種方法通常需要復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)裝置和精密的光學(xué)設(shè)備。 相比傳統(tǒng)方法,光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)更具優(yōu)勢(shì),應(yīng)用前景廣闊。

北京高速光學(xué)非接觸式應(yīng)變系統(tǒng),光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量

    應(yīng)用領(lǐng)域:材料科學(xué)和工程:用于評(píng)估材料的強(qiáng)度、剛度和疲勞性能。結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè):用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)工程結(jié)構(gòu)的應(yīng)變,提前發(fā)現(xiàn)結(jié)構(gòu)可能出現(xiàn)的問(wèn)題。生物醫(yī)學(xué):例如在組織工程中測(cè)量生物材料的變形和應(yīng)變。地質(zhì)和地球物理學(xué):用于研究巖石和土壤的力學(xué)性質(zhì)。優(yōu)勢(shì):非接觸性:不會(huì)影響測(cè)量對(duì)象的表面狀態(tài)或性質(zhì),避免了可能的損傷或干擾。高精度:能夠提供亞微米級(jí)別的應(yīng)變測(cè)量精度。實(shí)時(shí)性:能夠快速獲取和處理數(shù)據(jù),實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)應(yīng)變變化。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)在工程和科學(xué)研究中扮演著重要角色,為提高材料設(shè)計(jì)和結(jié)構(gòu)工程的效率和可靠性提供了強(qiáng)大的工具。  光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是一種高精度、無(wú)損的檢測(cè)方法,通過(guò)測(cè)量物體表面的變形來(lái)推算出其內(nèi)部的應(yīng)力分布。廣東光學(xué)非接觸式測(cè)量裝置

光學(xué)應(yīng)變測(cè)量可以通過(guò)光纖光柵傳感器等非接觸方式,實(shí)時(shí)測(cè)量復(fù)合材料中的應(yīng)變分布。北京高速光學(xué)非接觸式應(yīng)變系統(tǒng)

    光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)是一種重要的應(yīng)變測(cè)量方法,主要用于測(cè)量材料或結(jié)構(gòu)體表面的應(yīng)變情況。常見(jiàn)的光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)包括:光柵法(Moire法):基本原理:光柵法通過(guò)在被測(cè)物體表面放置一組參考光柵或者使用雙光束干涉產(chǎn)生Moire條紋,通過(guò)測(cè)量條紋的位移來(lái)計(jì)算應(yīng)變。優(yōu)點(diǎn):可以實(shí)現(xiàn)高靈敏度的應(yīng)變測(cè)量,對(duì)于表面應(yīng)變分布的測(cè)量比較適用。缺點(diǎn):對(duì)光照條件和環(huán)境要求較高,同時(shí)對(duì)被測(cè)物體表面的平整度和反射性有一定要求。全場(chǎng)測(cè)量法(如全場(chǎng)數(shù)字圖像相關(guān)法):基本原理:通過(guò)拍攝被測(cè)物體表面的圖像,利用數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)進(jìn)行比對(duì)分析,從而得出應(yīng)變場(chǎng)的分布。優(yōu)點(diǎn):可以實(shí)現(xiàn)大范圍的應(yīng)變測(cè)量,適用于復(fù)雜形狀的結(jié)構(gòu)體測(cè)量。缺點(diǎn):對(duì)攝像設(shè)備的要求較高,同時(shí)需要進(jìn)行較復(fù)雜的數(shù)據(jù)處理。 北京高速光學(xué)非接觸式應(yīng)變系統(tǒng)