能夠讓測(cè)試用的探針觸碰到這種小一點(diǎn)，而無(wú)需直接接觸到這些被測(cè)量的電子零件。初期在電路板上面還全是傳統(tǒng)式軟件（DIP）的時(shí)代，確實(shí)會(huì)拿零件的焊孔來(lái)作為測(cè)試點(diǎn)來(lái)用，由于傳統(tǒng)式零件的焊孔夠健壯，不害怕針刺，但是常常會(huì)出現(xiàn)探針接觸不良現(xiàn)象的錯(cuò)判情況產(chǎn)生，由于一般的電子零件歷經(jīng)波峰焊機(jī)（wavesoldering）或者SMT吃錫以后，在其焊錫絲的表層一般都是會(huì)產(chǎn)生一層助焊膏助焊劑的殘余塑料薄膜，這層塑料薄膜的特性阻抗十分高，經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致探針的接觸不良現(xiàn)象，因此那時(shí)候常常由此可見(jiàn)生產(chǎn)線的測(cè)試操作工，常常拿著氣體噴漆拼了命的吹，或者拿酒精擦拭這種必須測(cè)試的地區(qū)。實(shí)際上歷經(jīng)波峰焊機(jī)的測(cè)試點(diǎn)也會(huì)出現(xiàn)探針接觸不良現(xiàn)象的難題。之后SMT風(fēng)靡以后，測(cè)試錯(cuò)判的情況就獲得了非常大的改進(jìn)，測(cè)試點(diǎn)的運(yùn)用也被較高的地授予重?fù)?dān)，由于SMT的零件一般很敏感，沒(méi)法承擔(dān)測(cè)試探針的立即接觸壓力，應(yīng)用測(cè)試點(diǎn)就可以無(wú)需讓探針直接接觸到零件以及焊孔，不只維護(hù)零件不受傷，也間接性較高的地提高測(cè)試的靠譜度，由于錯(cuò)判的情況越來(lái)越少了。但是伴隨著高新科技的演變，線路板的規(guī)格也愈來(lái)愈小，小小的地電路板上面光源要擠下這么多的電子零件都早已一些費(fèi)勁了。專業(yè)PCB設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)生產(chǎn)各種電路板，與多家名企合作，歡迎咨詢！河北4層pcb
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PCIE必須在發(fā)送端和協(xié)調(diào)器中間溝通交流藕合，差分對(duì)的2個(gè)溝通交流耦合電容務(wù)必有同樣的封裝規(guī)格，部位要對(duì)稱性且要擺在挨近火紅金手指這里，電容器值強(qiáng)烈推薦為，不允許應(yīng)用直插封裝。6、SCL等信號(hào)線不可以穿越重生PCIE主集成ic。有效的走線設(shè)計(jì)方案能夠信號(hào)的兼容模式，減少信號(hào)的反射面和電磁感應(yīng)耗損。PCI-E總線的信號(hào)線選用髙速串行通信差分通訊信號(hào)，因而，重視髙速差分信號(hào)對(duì)的走線設(shè)計(jì)方案規(guī)定和標(biāo)準(zhǔn)，保證PCI-E總線能開(kāi)展一切正常通訊。PCI-E是一種雙單工聯(lián)接的點(diǎn)到點(diǎn)串行通信差分低壓互連。每一個(gè)安全通道有倆對(duì)差分信號(hào)：傳送對(duì)Txp/Txn，接受對(duì)Rxp/Rxn。該信號(hào)工作中在。內(nèi)嵌式數(shù)字時(shí)鐘根據(jù)***不一樣差分對(duì)的長(zhǎng)度匹配簡(jiǎn)單化了走線標(biāo)準(zhǔn)。伴隨著PCI-E串行總線傳輸速度的持續(xù)提升，減少互聯(lián)耗損和顫動(dòng)費(fèi)用預(yù)算的設(shè)計(jì)方案越來(lái)越分外關(guān)鍵。在全部PCI-E側(cè)板的設(shè)計(jì)方案中，走線的難度系數(shù)關(guān)鍵存有于PCI-E的這種差分對(duì)。圖1出示了PCI-E髙速串行通信信號(hào)差分對(duì)走線中關(guān)鍵的標(biāo)準(zhǔn)，在其中A、B、C和D四個(gè)框架中表明的是普遍的四種PCI-E差分對(duì)的四種扇入扇出方法，在其中以象中A所顯示的對(duì)稱性管腳方法扇入扇出實(shí)際效果較好，D為不錯(cuò)方法，B和C為行得通方法。專業(yè)提供PCB設(shè)計(jì)版圖服務(wù),經(jīng)驗(yàn)豐富,24小時(shí)出樣，收費(fèi)合理,值得選擇!
傳輸線的端接通常采用2種策略：使負(fù)載阻抗與傳輸線阻抗匹配，即并行端接；使源阻抗與傳輸線阻抗匹配，即串行端接。(1)并行端接并行端接主要是在盡量靠近負(fù)載端的位置接上拉或下拉阻抗，以實(shí)現(xiàn)終端的阻抗匹配，根據(jù)不同的應(yīng)用環(huán)境，并行端接又可以分為如圖2所示的幾種類型。(2)串行端接串行端接是通過(guò)在盡量靠近源端的位置串行插入一個(gè)電阻到傳輸線中來(lái)實(shí)現(xiàn)，串行端接是匹配信號(hào)源的阻抗，所插入的串行電阻阻值加上驅(qū)動(dòng)源的輸出阻抗應(yīng)大于等于傳輸線阻抗。這種策略通過(guò)使源端反射系數(shù)為零，從而壓制從負(fù)載反射回來(lái)的信號(hào)(負(fù)載端輸入高阻，不吸收能量)再?gòu)脑炊朔瓷浠刎?fù)載端。不同工藝器件的端接技術(shù)阻抗匹配與端接技術(shù)方案隨著互聯(lián)長(zhǎng)度、電路中邏輯器件系列的不同，也會(huì)有所不同。只有針對(duì)具體情況，使用正確、適當(dāng)?shù)亩私臃椒ú拍苡行У販p少信號(hào)反射。一般來(lái)說(shuō)，對(duì)于一個(gè)CMOS工藝的驅(qū)動(dòng)源，其輸出阻抗值較穩(wěn)定且接近傳輸線的阻抗值，因此對(duì)于CMOS器件使用串行端接技術(shù)就會(huì)獲得較好的效果；而TTL工藝的驅(qū)動(dòng)源在輸出邏輯高電平和低電平時(shí)其輸出阻抗有所不同。這時(shí)，使用并行戴維寧端接方案則是一個(gè)較好的策略；ECL器件一般都具有很低的輸出阻抗。需要專業(yè)PCB設(shè)計(jì)與生產(chǎn)的廠家？看這里！價(jià)格優(yōu)惠，服務(wù)好！河南常見(jiàn)pcb優(yōu)化價(jià)格
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合理進(jìn)行電路建模仿真是較常見(jiàn)的信號(hào)完整性解決方法，在高速電路設(shè)計(jì)中，仿真分析越來(lái)越顯示出優(yōu)越性。它給設(shè)計(jì)者以準(zhǔn)確、直觀的設(shè)計(jì)結(jié)果，便于及早發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，及時(shí)修改，從而縮短設(shè)計(jì)時(shí)間，降低設(shè)計(jì)成本。常用的有3種：SPICE模型，IBIS模型，Verilog-A模型。SPICE是一種功能強(qiáng)大的通用模擬電路仿真器。它由兩部分組成：模型方程式(ModelEquation)和模型參數(shù)(ModelParameters)。由于提供了模型方程式，因而可以把SPICE模型與仿真器的算法非常緊密地連接起來(lái)，可以獲得更好的分析效率和分析結(jié)果；IBIS模型是專門(mén)用于PCB板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)的數(shù)字信號(hào)完整性分析的模型。它采用I/V和V/T表的形式來(lái)描述數(shù)字集成電路I/O單元和引腳的特性，IBIS模型的分析精度主要取決于1/V和V/T表的數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)和數(shù)據(jù)的精確度，與SPICE模型相比，IBIS模型的計(jì)算量很小。河北4層pcb