AOI光學(xué)檢測(cè)與X-RAY無(wú)損檢測(cè)兩者之間的區(qū)別

      事實(shí)上，SMT當(dāng)中的AOI和X-RAY這兩者之間的功能是完全不一樣的，大家一定不要將其混為一談，盡管它們的基本原理都是通過(guò)光的反射來(lái)對(duì)元件的貼裝是否正確、位置是否良好以及有無(wú)漏貼等現(xiàn)象進(jìn)行檢查。

AOI的原理以及優(yōu)勢(shì)

      AOI實(shí)際上是較近幾年在市場(chǎng)上才出現(xiàn)的新型檢測(cè)設(shè)備，它的全稱為“自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)”，它是基于光學(xué)的原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)過(guò)程當(dāng)中所遇到的一些常見(jiàn)的缺陷進(jìn)行檢測(cè)的一種設(shè)備，比如它在用于SMT貼片當(dāng)中，對(duì)檢測(cè)元件的焊接之前的貼裝不良進(jìn)行檢測(cè)，包括電子元件的缺件、反向、偏位等進(jìn)行檢測(cè)，還可以對(duì)電子元器件經(jīng)回焊爐之后的焊接不良、缺件等進(jìn)行檢測(cè)。

X-RAY的原理以及行業(yè)優(yōu)勢(shì)

      而作為時(shí)下市面上主流的檢測(cè)設(shè)備X-RAY實(shí)際上指的就是X光，它的原理是在不損壞被檢測(cè)物體的前提之下，通過(guò)X光來(lái)對(duì)那些非金屬物質(zhì)特性的物質(zhì)進(jìn)行穿透，比如對(duì)BGA元件的焊接是否良好以及有沒(méi)有短路現(xiàn)象的檢測(cè)；如果說(shuō)的更加直白一些，那就是AOI檢測(cè)的是產(chǎn)品的平面，而X-RAY檢測(cè)的則是產(chǎn)品的內(nèi)部，比如鋰電池、IC芯片等產(chǎn)品有無(wú)短路、空焊、漏焊等缺陷。

AOI檢測(cè)基本原理與設(shè)備構(gòu)成？江門精密AOI檢測(cè)設(shè)備銷售公司

AOI的工作原理

      AOI又稱AOI光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，已成為制造業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測(cè)工具和過(guò)程質(zhì)量控制工具。AOI檢測(cè)設(shè)備工作原理是在自動(dòng)檢測(cè)過(guò)程中，AOI檢測(cè)設(shè)備機(jī)器通過(guò)高清CCD攝像頭自動(dòng)掃描PCBA產(chǎn)品，采集圖像，將測(cè)試點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中合格參數(shù)進(jìn)行對(duì)比，經(jīng)過(guò)圖像處理，檢查出目標(biāo)PCBA上的焊點(diǎn)缺陷，并通過(guò)顯示或自動(dòng)標(biāo)記缺陷。為維修人員維修和SMT工藝人員改進(jìn)工藝參數(shù)。

      AOI系統(tǒng)包括多種光源照明、高速數(shù)碼相機(jī)、高速直線電機(jī)、精密機(jī)械傳動(dòng)結(jié)構(gòu)和圖像處理軟件。測(cè)試時(shí)，AOI設(shè)備通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描和PCB、PCB上的部件或特殊部件(包括印刷錫膏的狀態(tài)、SMD組件、焊點(diǎn)形狀及缺陷等)來(lái)捕捉圖像，通過(guò)處理和數(shù)據(jù)庫(kù)軟件對(duì)合格參數(shù)進(jìn)行比較，并綜合判斷元件及特性是否合格，測(cè)試結(jié)論，如元件缺失、橋接或焊點(diǎn)質(zhì)量問(wèn)題。

      AOI的工作方式與SMT當(dāng)中SPI和印刷機(jī)中使用的視覺(jué)系統(tǒng)相同，通常使用設(shè)計(jì)規(guī)則檢查和模式識(shí)別。DRC方法根據(jù)一些給定的規(guī)則檢查電路圖形(所有的線應(yīng)該在焊點(diǎn)處結(jié)束，引線應(yīng)該至少0.127毫米寬，至少0.102毫米間距)。該方法能從算法上保證待測(cè)電路的正確性，且具有制作簡(jiǎn)單、算法邏輯簡(jiǎn)單、處理速度快、程序編輯量小、數(shù)據(jù)占用空間小等特點(diǎn)，但該方法確定邊界的能力較差。 珠海AOI檢測(cè)設(shè)備設(shè)備價(jià)錢AOI又稱AOI光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，已成為制造業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測(cè)工具和過(guò)程質(zhì)量控制工具。

AOI工作原理

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的光源分為兩類：可見(jiàn)光檢測(cè)和X光檢測(cè)

AOI檢測(cè)分為兩部分：

光學(xué)部分和圖像處理部分，通過(guò)光學(xué)部分獲得需要檢測(cè)的圖像；通過(guò)圖像處理部分來(lái)分析、處理和判斷。圖像處理部分需要很強(qiáng)的軟件支持，因?yàn)楹畏N缺陷需要不同的計(jì)算方法用電腦進(jìn)行計(jì)算和判斷。

燈光變化的智能控制

人認(rèn)識(shí)物體是通過(guò)光線反射回來(lái)的量進(jìn)行判斷，反射量多為量，反射量少為暗。AOI與人判斷原理相同。AOI通過(guò)人工光源LED燈光代替自然光，光學(xué)透鏡和CCD代替人眼，把從光源反射回來(lái)的量與已經(jīng)編好程的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較、分析和判斷。對(duì)AOI來(lái)說(shuō)，燈光是認(rèn)識(shí)影響的關(guān)鍵因素，但光源受環(huán)境溫度、AOI設(shè)備內(nèi)部溫度上升等因素影響，不能維持不變的光源，因此需要通過(guò)“自動(dòng)跟蹤”燈光“透過(guò)率“對(duì)燈光變化進(jìn)行智能控制。

焊點(diǎn)檢測(cè)原理

AOI是X、Y平面（2D）檢測(cè)，而焊點(diǎn)是立體的，因此需要3D檢測(cè)焊點(diǎn)高度（Z）。

3D檢測(cè)的方法有

當(dāng)下流行的是采用頂部燈光和底部燈光照射—用頂部燈光照射焊點(diǎn)和Chip元件時(shí)，元件部分燈光反射到camera，而焊點(diǎn)部分光線反射出去。與此相反，用底部（水平）燈光照射時(shí)，元件部分燈光反射出去，焊點(diǎn)部分光線反射到career。急用底部燈光可以得到焊點(diǎn)部分的影響。

AOI設(shè)備的原理

1.焊錫表面具有光的平面鏡反射性質(zhì)，因此照射在焊錫表面的光，遵循入射角=反映射角方向進(jìn)行反射。

2.光源設(shè)計(jì)通過(guò)“紅色、綠色、藍(lán)色”不同角度的光源照射，反映被造物體的曲面的變化情況。從而達(dá)到檢測(cè)元件焊接弧度的目的。

3.不同的曲面弧度上，顏色反映了弧度的變化特性?！凹t光”“綠光”“藍(lán)光”的亮度強(qiáng)弱比例，是保證這一檢測(cè)原理的關(guān)鍵。

①紅色：上錫角度相對(duì)較低時(shí)，紅光反射回像機(jī)。（1°-25°）

②綠色：上錫角度相對(duì)高一些時(shí)綠光反射回像機(jī)。（25°-45°）

③藍(lán)色：上錫角度較高時(shí)，藍(lán)光反射回像機(jī)。（45°以上） AOI的種類由于設(shè)計(jì)思路及性能的不同，詳情了解分類。

AOI檢測(cè)系統(tǒng)的軟件組成

      結(jié)合光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)采集到的圖像數(shù)據(jù)，AOI檢測(cè)系統(tǒng)的軟件主要包括算法、影像處理軟件和通訊軟件。同樣AOI系統(tǒng)判斷一個(gè)組件是否是合格，也會(huì)設(shè)定一個(gè)規(guī)則，滿足規(guī)則的就合格，不滿足規(guī)則就是不良品。這個(gè)規(guī)則標(biāo)準(zhǔn)建模的方法即是算法，算法是整個(gè)軟件系統(tǒng)的重中之重，也是AOI檢測(cè)廠商的重要競(jìng)爭(zhēng)力。

      AI成為AOI檢測(cè)技術(shù)進(jìn)一步發(fā)展的關(guān)鍵因素。

      以AOI檢測(cè)應(yīng)用范圍廣的PCB行業(yè)為例，中低端AOI檢測(cè)設(shè)備的誤判過(guò)篩率約為70%，即捕捉到的不良品中其實(shí)有70%的成品是合格的。因此目前PCB廠商多采取人工二次篩選，將實(shí)際合格的PCB板再度送回產(chǎn)線，預(yù)估一臺(tái)AOI檢測(cè)機(jī)常需配置4名人員進(jìn)行二次檢查。

      伴隨AI技術(shù)的迅速發(fā)展，也給AOI檢測(cè)行業(yè)帶來(lái)了技術(shù)革新的契機(jī)。傳統(tǒng)AOI檢測(cè)與AI AOI辨識(shí)的差異，在于是否可針對(duì)未知瑕疵進(jìn)行判定，傳統(tǒng)AOI檢測(cè)設(shè)備只能以設(shè)定好的參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)為基準(zhǔn)進(jìn)行判斷，也就是邏輯性的思考，需要先定義瑕疵的樣本，再透過(guò)樣本進(jìn)行檢測(cè)。但導(dǎo)入訓(xùn)練成熟的AI技術(shù)后，AI AOI檢測(cè)系統(tǒng)能夠自行定義瑕疵范圍，進(jìn)一步有效判別未知的瑕疵圖像，且這個(gè)學(xué)習(xí)的過(guò)程是在不斷重復(fù)進(jìn)行積累的。 AOI檢測(cè)圖像對(duì)比實(shí)現(xiàn)原理目前比較流行的圖像對(duì)比方式有哪三種？中山多功能AOI檢測(cè)設(shè)備廠家價(jià)格

AOI的包含情況以及三種檢測(cè)方法，歡迎來(lái)電咨詢。江門精密AOI檢測(cè)設(shè)備銷售公司

AOI檢測(cè)設(shè)備誤判的定義

AOI檢測(cè)誤判的定義及存在原困、 檢測(cè)誤判的定義及存在原困、檢測(cè)誤判的定義及存在原困誤判的三種理解及產(chǎn)生原因可以分為以下幾點(diǎn)：

1、元件及焊點(diǎn)本來(lái)有發(fā)生不良的傾向，但處于允收范圍。如元件本來(lái)發(fā)生了偏移，但在允收范圍內(nèi)；此類誤判主要是由于闕值設(shè) 定過(guò)嚴(yán)造成的，也可能是其本身介于不良與良品標(biāo)準(zhǔn)之間，AOI與MV(人工目檢)確認(rèn)造成的偏差，此類誤判是可以通過(guò)調(diào)整及 與MV協(xié)調(diào)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)降低。

2、元件及焊點(diǎn)無(wú)不良傾向，但由于DFM設(shè)計(jì)時(shí)未考慮AOI的可測(cè)性，而造成AOI判定良與否有一定的難度，為保證檢出效果，將 引入一些誤判。如焊盤設(shè)計(jì)的過(guò)窄或過(guò)短，AOI進(jìn)行檢測(cè)時(shí)較難進(jìn)行很準(zhǔn)確的判定，此類情況所造成的誤判較難消除，除非改進(jìn) DFM或放棄此類元件的焊點(diǎn)不良檢測(cè)。

3、由于AOI依靠反射光來(lái)進(jìn)行分析和判定，但有時(shí)光會(huì)受到一些隨機(jī)因素的干擾而造成誤判。如元件焊端有臟物或焊盤側(cè)的印制 線有部分未完全進(jìn)行涂敷有部分裸露，從而造成搜索不良等。并且檢測(cè)項(xiàng)目越多，可能造成的誤報(bào)也會(huì)稍多。此類誤報(bào)屬隨機(jī)誤 報(bào)，無(wú)法消除。 江門精密AOI檢測(cè)設(shè)備銷售公司

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