哪里有實(shí)驗(yàn)室檢測設(shè)備

Optoflash具有2D圖像相機(jī)的結(jié)構(gòu)，為軸類件光學(xué)測量行業(yè)設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)，對測量操作來講是很重要的優(yōu)勢。通孔測量：通孔測量的時(shí)間只在毫秒之間，而且結(jié)果更加準(zhǔn)確。無以倫比的測量速度動(dòng)的設(shè)計(jì)。完全的2D，基于不需要光學(xué)結(jié)構(gòu)。另外。Optoflsh具有2D圖像的連續(xù)性，完整的輪廓和工件圖像都可以在一張照片中采集，所以可以盡可能大的獲取數(shù)據(jù)，減少機(jī)械誤差。同時(shí)，Optoflsh具有軸向端面跳動(dòng)，2D圖像的算法，使得整個(gè)端面的表面都可以在每個(gè)旋轉(zhuǎn)角度都被動(dòng)態(tài)掃描出。所以O(shè)ptoflash測量軸向端面跳動(dòng)的結(jié)果比傳統(tǒng)線掃描光學(xué)設(shè)備的更好。通孔測量的時(shí)間只在毫秒之間，而且結(jié)果更加準(zhǔn)確。Hetech Marposs系統(tǒng)都具備很多優(yōu)勢，首先是有兩個(gè)泵送系統(tǒng)，一個(gè)真空泵送系統(tǒng)和一個(gè)分析泵送系統(tǒng)。哪里有實(shí)驗(yàn)室檢測設(shè)備

MARPOSS可以用累積室中的氦氣對電池PACK進(jìn)行泄漏測試，待測零件在環(huán)境壓力下被放入密封室，然后充入氦氣，通過氦質(zhì)譜儀檢測是否有示蹤氣體從待測零件流到密封室里。這種零部件半成品和pack成品的泄漏測試技術(shù)是一種非?？煽康姆椒ǎ梢源_保產(chǎn)品整體密封性良好，從而防止水進(jìn)入電池pack內(nèi)部。使用示蹤氣體的泄漏測試方法可確保比較大的測試靈敏度，其可以識別極低的泄漏情況，適用于大容積部件和任何環(huán)境條件。我們在累積室氦氣泄漏測試方案可以測量10-2-10-4SCC/sec的泄漏。電機(jī)繞組測試儀渦流探測（EC）是一系列無損技術(shù)（NDT），用于檢查被測組件的表面質(zhì)量和材料特性。

馬波斯在扁線尺寸測量深耕多年，能夠提供針對生產(chǎn)電動(dòng)車定子測量的多款解決方案。眾所周知，生產(chǎn)電動(dòng)車定子需要使用不同類型的扁線，馬波斯提供的這款柔性非接觸式測量方案就能夠測量不同類型扁線的主要幾何特征。這解決了生產(chǎn)電動(dòng)車定子測量遇到的問題。實(shí)際上，在扁線尺寸測量方面，馬波斯可提供非接觸式解決方案，同時(shí)保證不同類型的零件都能夠使用測設(shè)備測量。這在一定程度上體現(xiàn)了馬波斯該系列解決方案無需換工裝速度快且精度高的優(yōu)點(diǎn)。

Optoquick讓操作變得更高效。Optoquick減少了生產(chǎn)過程中，浪費(fèi)在零件驗(yàn)證上的時(shí)間。Optoquick的操作不但快速，而且可將它直接安裝在生產(chǎn)機(jī)床旁，消除了昂貴的工件物流成本。使用Optoquick提高了生產(chǎn)率，并可對生產(chǎn)高峰進(jìn)行管理。因此，可在數(shù)月之內(nèi)獲取投資回報(bào)。除此之外，還可以提高生產(chǎn)質(zhì)量水平。Optoquick在生產(chǎn)機(jī)床旁安裝，從而可更加頻繁進(jìn)行工件的測量驗(yàn)證與確認(rèn)。因此，Optoquick可提升質(zhì)量保障，在一定程度減少廢件的生產(chǎn)。進(jìn)行氦氣試漏的方法有多種，即對真空腔進(jìn)行整體測試 這體現(xiàn)的是優(yōu)異與有效的選擇。

泄漏測試是電池pack裝配過程中的基本要求，用于檢查電池pack的氣密性，以防止水、濕氣、灰塵或其他外部污染物進(jìn)入，這些會(huì)導(dǎo)致pack內(nèi)部的高壓零部件出現(xiàn)短路。MARPOSS可以用累積室中的氦氣對電池PACK進(jìn)行泄漏測試。在量產(chǎn)期間進(jìn)行100%質(zhì)量檢查，需要使用整體泄漏測試方法以很大程度地縮短測試時(shí)間。當(dāng)無法采用空氣法（壓降法或質(zhì)量流量法）時(shí)，因?yàn)樗鼈儫o法滿足測試規(guī)范要求，累積室中的氦氣示蹤法是比較好的測量方案，其具有比較高的測試靈敏度和很短的循環(huán)周期。Dosaset是馬波斯在醫(yī)療設(shè)備裝配領(lǐng)域的解決方案，能夠保證每種設(shè)備的特性和優(yōu)越性能。汽車底盤生產(chǎn)檢測

E.D.C.自1998年以來開發(fā)的用于局部放電絕緣測試的方法基于電容耦合技術(shù)。哪里有實(shí)驗(yàn)室檢測設(shè)備

對于光學(xué)測量不到的特征，G25是一個(gè)完美的互補(bǔ)。這些測量特征通常包括：?鍵槽深度，角度，對稱度?孔?平面的形位特征?軸向跳動(dòng)。接觸式軸向測頭通過智能集成的軸向接觸式測頭，可進(jìn)一步拓展Optoquick的功能。這使得Optoquick能夠?qū)崿F(xiàn)以下附加功能：?小公差的軸向跳動(dòng)度?用戶定義半徑處的軸向長度?穿過工件軸線的測量?光學(xué)測量不到的區(qū)域。通過將光學(xué)與接觸式技術(shù)，以及完整的馬波斯設(shè)計(jì)結(jié)合起來，Optoquick可提供高于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的擴(kuò)展測量功能。通過此獨(dú)特的技術(shù)集成，Optoquick可快速測量規(guī)定半徑處的軸向單跳動(dòng)和全跳動(dòng)。哪里有實(shí)驗(yàn)室檢測設(shè)備