泄漏檢測儀

在超高精度加工設備的行業(yè)，OptoflashXS可以滿足超高精度加工行業(yè)的要求。例如，Optoflash可以測量半徑小于0.1mm的倒角和圓弧，或者沿軸向很小的直徑變化。在醫(yī)療用品行業(yè)，柔性，是Optoflash能夠應用在醫(yī)療植入物和加工刀具行業(yè)里，十分重要的優(yōu)勢。適合多品種，小批量的檢測，性價比高。對于塑料注塑件和高精度的牙科植入件，OptoflashXS檢測的速度更快，精度更高。測量過程中的品種切換只需要在用戶屏幕上點擊一下即可。Optoflash測量系統(tǒng)特別易于使用：開放式的裝載區(qū)域，符合人機工程學原理的尾架系統(tǒng)，可方便地夾緊待測工件。基于觸屏顯示器的軟件用戶界面—可為用戶提供良好的操作體驗。定子的質量控制意味著檢查整個生產鏈的各種電氣特性。特別是絕緣試驗和局部放電測試在工藝的不同階段進行。泄漏檢測儀

馬波斯錠材切片機在半導體行業(yè)有著許多應用。錠材切片（硅錠，藍寶石錠，碳化硅錠，氮化鎵錠）是芯片制造的第一步。高速線鋸將錠材切成“圓晶”，然后打磨，使圓晶達到鏡面光潔度。錠材切片中，如果金剛石線斷線，必須立即停止切片機。事實上，錠材緩慢下降并被線鋸切成圓晶片，這個過程長達數小時。用更細的金剛石線線鋸切片是未來趨勢，可比較大限度減小鋸縫寬度，讓單個錠材產出更多圓晶，顯著提高生產速度。如果在錠材線鋸過程中，金剛石線斷線，必須立即停止切片機運動。燃料電池檢測設備解決方案馬波斯產品提供電性能測試應用程序，包括手動和自動方案，該方案可以對定子進行的功能和電性能測試。

馬波斯(半)自動測量系統(tǒng)Visiquick馬波斯半自動測量系統(tǒng)基于接觸或光學技術。被測容器采用人工裝卸，測量周期自動進行。基于光學技術的系統(tǒng)柔性很高，可以測量許多不同的物品，無論其大小、形狀和顏色，且無需任何操作調整。2.而在馬波斯自動測量系統(tǒng)中，玻璃容器的裝卸和測量操作可完全自動進行，無需任何人為干預。它們主要基于非接觸式技術，除了外形尺寸外，還可以測量其他特征，如口內徑和輪廓、壁厚、重量、瓶底高度、貼標區(qū)域輪廓等。與半自動測量系統(tǒng)相比，自動測量系統(tǒng)的優(yōu)勢在于***降低人力成本。使用半自動和自動測量系統(tǒng)執(zhí)行的測量結果被發(fā)送到MES（制造執(zhí)行軟件），并被決策者用于實時微調和監(jiān)控制造過程。

在測量轉子軸多個截面的外徑的同時,還可以同時測量鐵芯和花鍵齒輪相對于轉子軸的跳動。用激光掃描技術檢查平衡孔的直徑和深度是一個附加功能。Marposs可以提供基于2D光學技術的高精度測量解決方案,用于在計量實驗室和生產環(huán)境中對轉子和轉子軸進行快速和多樣的質量控制。觸覺感應和光學技術的結合(也能在轉子磁場的影響下工作)使測量能力達到理想水平。根據轉子類型的不同,客戶可使用定制的手動或自動方案進行不同的測試操作。通過反電動勢分析檢查永磁轉子的磁場均勻性、檢查感應電機鼠籠轉子條的局部缺陷、繞線轉子的絕緣測試，包括局部放電測量等。EOL測試可提供完整的功能測試,包括滿足市場標準的NVH分析。還可提供實驗室環(huán)境下。

Optoflash具有明顯的功能。一方面，高速測量。在不進行Z軸運動的情況下對整個零件進行光學采集—相對其它系統(tǒng)對測量要素逐一掃描測量來說—Optoflash測量系統(tǒng)測量只需一瞬間。另一方面，可靠耐用。固定位置的光學系統(tǒng)，避免了軸向的機械磨損。測量系統(tǒng)擁有很強的計量性能，可在數百萬次的測量周期內，確保運行的一致性和穩(wěn)定性。這一性能可比較大限度地減少對系統(tǒng)的維護保養(yǎng)。因此，可以看出Optoflash具有高測量精度和“閃電般”的測量循環(huán)時間。泄漏測試是電池pack裝配過程中的要求用于檢查電池pack氣密性，保證電池pack內部的高壓零部件不會出現短路。半導體 晶圓檢測

無論定子是哪種型號, Marposs都可以提供多種產品和應用,以滿足整個制造鏈的過程控制。泄漏檢測儀

在緊固件的質量控制方面，螺栓、銷釘和鉚釘都可以通過Optoflash實現快速測量。標準的測量選項里包括螺紋測量功能：螺紋大徑、螺紋小徑、螺紋中徑、螺距、嚙合角度、螺紋總長度、螺紋起始點角向、螺紋軸線、螺紋同軸度等。基于2D圖像采集技術，Optoflash是測量渦輪增壓器的完美解決方案比較大的優(yōu)勢在于，Optoflash可通過一張2D圖像采集到整個工件輪廓，所以能夠用更快的速度測量到整個葉片的輪廓（而不是數個截面），并且更加精確可靠。Optoflash的測量速度是傳統(tǒng)線掃描光學系統(tǒng)的兩倍。泄漏檢測儀