海南數(shù)字式位相差測(cè)定裝置

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-03-15

位相差測(cè)定裝置的誤差來源。位相差測(cè)定裝置的測(cè)量是單軸、二維平面的測(cè)量、三維空間坐標(biāo)的測(cè)量。測(cè)量時(shí)先對(duì)焦取點(diǎn)計(jì)算處理。對(duì)焦對(duì)準(zhǔn)依靠光學(xué)系統(tǒng),讀數(shù)來自于標(biāo)尺即光柵系統(tǒng),還有一個(gè)直接影響測(cè)量效果和精度的照明光源,因?yàn)槿绻粶y(cè)件不能被有效正確的照明的影像方法的測(cè)量的儀器,則測(cè)量的結(jié)果顯然要偏離其真實(shí)尺寸。除前述因素外,制約測(cè)量精度不可忽視的因素也包括環(huán)境條件。于上述分析,可以歸納出以下幾個(gè)方面的誤差來源:1)光柵計(jì)數(shù)尺的誤差;2)直線度、角擺在工作臺(tái)移動(dòng)時(shí)帶來的誤差;3)工作臺(tái)兩測(cè)量軸垂直度帶來的誤差;4)工作臺(tái)面與顯微鏡光軸不垂直帶來的誤差;5)偏離校準(zhǔn)要求的參考溫度的測(cè)量室溫度帶來的誤差;6)光源照明條件的變化帶來的對(duì)準(zhǔn)和對(duì)焦誤差。位相差測(cè)定裝置的發(fā)展是基于傳統(tǒng)投影儀的基礎(chǔ)上而來的。海南數(shù)字式位相差測(cè)定裝置

位相差測(cè)定裝置的光源如何應(yīng)用?投影儀光源位于投影片的下面,光線透過投影片而終形成了影像。位相差測(cè)定裝置光源位于投影片的上方,光線通過投影片的反射而終形成了影像,由于光線兩次經(jīng)過投影片使其光密度增大了一倍,位相差測(cè)定裝置投影出來的影像反差大,色彩特別飽和。位相差測(cè)定裝置光源同樣位于投影片的上面,光線經(jīng)縲紋透鏡背面的金屬膜反射后,又透過投影片,從而形成影像。在它成像的過程中既有反射又有透射,因此稱之為反射透射結(jié)合式投影儀。位相差測(cè)定裝置光源在位相差測(cè)定裝置體系中有著舉足輕重的地位,甚至可以說,它決定著位相差測(cè)定裝置功能的好壞。因些,不管是操作人員還研發(fā)人員,都很有必要對(duì)位相差測(cè)定裝置的光源進(jìn)行了解。安徽復(fù)屈折位相差測(cè)定裝置廠家位相差測(cè)定裝置并可輕松繪制和導(dǎo)入CAD圖形。

位相差測(cè)定裝置的主要作用。在精密位相差測(cè)定裝置器開始發(fā)展的時(shí)候,我們光能依靠一臺(tái)簡(jiǎn)單粗糙的投影機(jī)來完成一些簡(jiǎn)單的測(cè)量,這在很大的程度上限制了市場(chǎng)與客戶對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量保證。于是,在這個(gè)基礎(chǔ)上,位相差測(cè)定裝置被科研人員和生產(chǎn)廠商研發(fā)而出,頓時(shí)成為了高精度位相差測(cè)定裝置中的時(shí)尚寵兒。在現(xiàn)在看來,任然是屬于簡(jiǎn)單的檢測(cè)儀器,可是在當(dāng)時(shí)的情況下來說,它已經(jīng)在原始投影機(jī)的基礎(chǔ)上有了很大的突破,它在測(cè)量結(jié)果的精確度與測(cè)量的復(fù)雜性都有了很大的提高,也正是從這個(gè)時(shí)候開始,精密位相差測(cè)定裝置器真正進(jìn)入到了高精度位相差測(cè)定裝置的發(fā)展時(shí)代。

從位相差測(cè)定裝置發(fā)展軌跡看精密位相差測(cè)定裝置器未來。精密位相差測(cè)定裝置器自上世紀(jì)九十年代進(jìn)入我國(guó),迅速成為現(xiàn)代檢測(cè)工業(yè)的寵兒。在工業(yè)生產(chǎn)中被普遍應(yīng)用,目前已經(jīng)是現(xiàn)代工業(yè)不可缺少的部分,也是一個(gè)處在高速發(fā)展的新興產(chǎn)業(yè)。下面,我們先從精密檢測(cè)儀器的主流儀器—位相差測(cè)定裝置和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)談起,再展望精密檢測(cè)儀器在未來的發(fā)展趨勢(shì)。對(duì)于精密位相差測(cè)定裝置器,我們知道,像位相差測(cè)定裝置和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)之類,它們的發(fā)展從初的簡(jiǎn)單投影儀,到粗糙的手動(dòng)影像測(cè)量,以及手動(dòng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),再到如今的全自動(dòng)位相差測(cè)定裝置和全自動(dòng)三坐標(biāo)位相差測(cè)定裝置,每一步的發(fā)展在精密位相差測(cè)定裝置器中都是必然的結(jié)果。然而,這些高精度位相差測(cè)定裝置發(fā)展到現(xiàn)在,是不是就此停滯不前呢?這是很多精密測(cè)量人都十分關(guān)注的話題。位相差測(cè)定裝置測(cè)量過程中,我們應(yīng)當(dāng)滿足已經(jīng)協(xié)議的并且進(jìn)行了一個(gè)良好定義的要求。

相位差的計(jì)算公式是什么?在交流電路中經(jīng)常要進(jìn)行同頻率正弦量之間相位的比較(比如電壓和電流之間)。同頻率正弦量的相位之差稱為相位差,用△Φ表示。電壓u與電流i的相位差為:△Φ=(ωt+Φu)-(ωt+Φi)=Φu-Φi。已知u=311sin(314t-30°)V,I=5sin(314t+60°)A,則u與i的相位差為jui=(-30°)-(+60°)=-90°,即u比i滯后90°,或i比u超前90°。相位關(guān)系。(1)當(dāng)j12>0時(shí),稱①正弦量比②正弦量的相位越前(或超前)j12;(2)當(dāng)j12<0時(shí),稱①正弦量比②正弦量的相位滯后(或落后)|j12|;(3)當(dāng)j12=±π或±180°時(shí),稱①正弦量與②正弦量反相;(5)當(dāng)j12=±π/2或±90°時(shí),稱①正弦量與②正弦量正交。位相差測(cè)定裝置隨著不斷進(jìn)步的工業(yè)水平,對(duì)微型零件的精度要求也將進(jìn)一步提高。安徽KOBRA-WFD0位相差測(cè)定裝置批發(fā)

位相差測(cè)定裝置滿足工業(yè)抽樣檢驗(yàn)和批量檢測(cè)的需要。海南數(shù)字式位相差測(cè)定裝置

位相差測(cè)定裝置技術(shù)及其發(fā)展趨勢(shì)。進(jìn)一步提升測(cè)量精度。隨著不斷進(jìn)步的工業(yè)水平,對(duì)微型零件的精度要求也將進(jìn)一步提高,因而也提出了對(duì)位相差測(cè)定裝置技術(shù)的測(cè)量精度更高的要求。同時(shí),隨著快速發(fā)展的圖像傳感器件,高分辨率器件也為系統(tǒng)精度的提升創(chuàng)造了條件。測(cè)量效率提高。在工業(yè)中微型零件的應(yīng)用正在成幾何量級(jí)的增長(zhǎng),100%在線測(cè)量的生產(chǎn)模式以及繁重的測(cè)量任務(wù)都需要高效率的測(cè)量手段。隨著圖像處理算法的不斷優(yōu)化以及計(jì)算機(jī)等硬件能力的提升,位相差測(cè)定裝置系統(tǒng)的效率都將得到提高。實(shí)現(xiàn)由點(diǎn)測(cè)量模式向整體測(cè)量模式的微型零件過渡?,F(xiàn)有的位相差測(cè)定裝置技術(shù)受測(cè)量精度的制約,難以對(duì)整個(gè)輪廓或整體特征點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,基本都是對(duì)微型零件中關(guān)鍵特征區(qū)域進(jìn)行成像,從而實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵特征點(diǎn)的測(cè)量。隨著不斷提升的測(cè)量精度,實(shí)現(xiàn)整體形狀誤差的高精度測(cè)量并獲取零件的完整圖像將會(huì)在越來越多的領(lǐng)域獲得應(yīng)用。海南數(shù)字式位相差測(cè)定裝置

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