金屬元素分析儀能量色散 光譜 儀排行榜 ，推薦HeLeeX ?禾苗E8 ，性價(jià)比超高，質(zhì)保兩年！
專業(yè)的鍍層測(cè)試儀器HeLeeX E8 -SPR是一款高性能能量 色散 型X射線熒光 光譜儀 ,與普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系統(tǒng)集合國內(nèi)外幾十年EDXRF尖端技術(shù)：核心部件采用美國進(jìn)口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有權(quán)威第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告：E8-SPR采用小光斑設(shè)計(jì),多種工作模型供選擇,測(cè)試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確、更穩(wěn)定。 儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì),儀器兩側(cè)按成人手臂長度設(shè)計(jì)：方便移動(dòng)、搬運(yùn)。 上蓋傾斜6度角,寓意對(duì)客戶的尊重。 表面采用高檔汽車噴漆工藝,采用寶藍(lán)、雅致白搭配：藍(lán)色代表科技,白色代表圣潔,寓意對(duì)科學(xué)的敬仰。 可視化樣品窗 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線 輻射標(biāo)志警示 迷宮式結(jié)構(gòu),防止射線泄漏 安全連鎖設(shè)計(jì)：測(cè)試過程中誤打開樣品蓋時(shí),電路0.1US快.速切斷X儀器經(jīng)權(quán)威第三方檢測(cè)：X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》。 超短光路設(shè)計(jì)：提高無鹵檢測(cè)分辨率,提高樣品分析效率：降低光管功率,延長儀器使用壽命。 模塊化準(zhǔn)直器：根據(jù)分析元素,配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器：從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響,提高元素分辨率。 空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì),加速光管冷卻：有效降低儀器內(nèi)部溫度。 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 專利技術(shù)：快拆樣品盤、更換薄膜 分析元素：Na-U 分析時(shí)間：60秒 配置RoHS檢測(cè)分析模型,無鹵分析軟件界面簡潔、模塊化設(shè)計(jì)、功能清晰,易可配置鍍層分析模型、玩具指令等模型。 HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原功能：保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全。 HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法：增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度。 HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。 鍍層分析：各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析及鍍層元素含量分析 RoHS/ELV指令測(cè)試元素：Pb/鉛、Cd/鎘、Hg/汞、Cr/鉻、Br/溴 無鹵檢測(cè)：測(cè)試元素Br/溴、Cl/氯 合金分析：鋼鐵、銅類、鋅類等成分分析 ?
如何利用熒光X射線進(jìn)行定量分析 在包含某種元素1的樣品中，照射一次X射線，就會(huì)產(chǎn)生元素1的熒光X射線，不過這個(gè)時(shí)候的熒光X射線的強(qiáng)度會(huì)隨著樣品中元素1的含量的變化而改變。元素1的含量多，熒光X射線的強(qiáng)度就會(huì)變強(qiáng)。注意到這一點(diǎn)，如果預(yù)先知道已知濃度樣品的熒光X射線強(qiáng)度，就可以推算出樣品中元素1的含量。采用定量分析的時(shí)候，可以在樣品中加入高純度的二氧化硅，作為參比樣，并且摻量是已知的。這樣可以間接知道其他組分的含量。 利用熒光X射線進(jìn)行定量分析的時(shí)候，大致分為3個(gè)方法。一個(gè)是制作測(cè)量線的方法（經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法）。這個(gè)方法是測(cè)定幾點(diǎn)實(shí)際的已知濃度樣品，尋求想測(cè)定元素的熒光X射線強(qiáng)度和濃度之間的關(guān)系，以其結(jié)果為基礎(chǔ)測(cè)定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。 另一個(gè)方法是理論演算的基礎(chǔ)參數(shù)法（FP法）。這個(gè)方法在完全了解樣品的構(gòu)成和元素種類前提，利用計(jì)算的各個(gè)熒光X射線強(qiáng)度的理論值，推測(cè)測(cè)定得到未知樣品各個(gè)元素的熒光X射線強(qiáng)度的組成一致。 NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數(shù)法。它是基于熒光X射線激發(fā)的基本原理，從理論上使用基本物理參數(shù)計(jì)算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線熒光強(qiáng)度的?；诖嗽儆?jì)算Lachance綜合校正系數(shù)，然后使用這些理論系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng).效應(yīng)。它與經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法不同，這些校正系數(shù)是從理論上取得的，而非建立在經(jīng)驗(yàn)上。因而它也不需要那么多的標(biāo)樣，只要少數(shù)標(biāo)樣來校準(zhǔn)儀器因子。
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